[發明專利]一種靶彈裝配檢測系統及方法

無效

• 申請號: 201010236170.1
• 申請日: 2010-07-26
• 公開（公告）號: CN101915516A
• 公開（公告）日: 2010-12-15
• 發明（設計）人: 王學田;房麗麗;曹歡歡;雷鷗
• 申請（專利權）人: 北京理工大學
• 主分類號: F41A31/00
• 分類號: F41A31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種靶彈裝配檢測系統，其特征在于，包括示波器、PIN調制器、壓控振蕩器、功率放大器、環形器、檢波頭、微波暗室和天線。

其中，所述示波器要求內置有方波信號發生器；

所述功率放大器要求其增益大于等于20dBm；

所述環形器要求其2端口和3端口之間的隔離度大于等于22dB；

所述微波暗室結構為立方體，其中，在暗室的一個面上開有一個天線安裝口；在天線安裝口對稱的另一面上開有靶彈頭部放置口，其直徑要與所測靶彈的最大直徑相同；所述天線安裝口要與靶彈頭部放置口處于同一軸線上，使天線波束中心對準靶彈的軸心；在微波暗室的內壁表面吸附一層吸波材料，吸波材料的材質和厚度要求滿足當壓控振蕩器輸出的單頻信號頻率為2.1G，其正向吸波損耗小于等于35dB；微波暗室帶有安裝口的截面積尺寸要求不大于3m×3m，同時不小于1m×1m；

其連接關系為：

示波器的方波輸出端與PIN調制器的調制信號輸入端口相連，壓控振蕩器與PIN調制器的載波輸入端口相連；PIN調制器的輸出端同功率放大器的輸入端相連，功率放大器的輸出端同環形器的1端口相連，環形器的2端口與天線相連，環形器的3端口與檢波頭相連；檢波頭的輸出端與示波器的信號輸入端相連；天線從天線安裝口處伸入到微波暗室內。

2.如權利要求1所述的一種靶彈裝配檢測系統，其特征在于，所述天線波束中心到龍伯球的距離為1m。

3.一種靶彈裝配檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

首先，將被測靶彈伸入微波暗室的靶彈安放口；

然后，啟動檢測系統，示波器向PIN調制器中輸出一個方波；同時，壓控振蕩器向PIN調制器輸入一個單頻信號，PIN調制器用方波對該單頻信號進行調制，并輸出一個調幅信號；

之后，功率放大器對該調幅信號進行放大；經放大后的調幅信號經環形器輸入到天線處進行發射；在微波暗室內，由天線發出的調幅波將被靶彈內的龍伯球反射回來，并被天線接收后，由環形器輸入到檢波頭處進行幅度檢測，檢測結果輸入到示波器進行顯示，從而得到反應該被測靶彈中龍伯球位置的示波器輸出電平；

隨后，查看該示波器輸出電平是否在160～195mV范圍之內，如果在，則認定龍伯球位置安放正確，即，其正向對準了靶彈頭部；如果該電平等于范圍臨界值或者在上述范圍之外，則認為龍伯球位置安放不正確。

4.根據權利要求3所述的一種靶彈裝配檢測方法，其特征在于，所述壓控振蕩器向PIN調制器輸入一個單頻信號的頻率為2.1GHz。

5.一種如權利要求3所述的一種靶彈裝配檢測方法，其特征在于，所述示波器向PIN調制器中輸出方波的頻率范圍為0.5-2KHz。