[發明專利]晶振振動測試夾具

無效

• 申請號: 201010233955.3
• 申請日: 2010-07-22
• 公開（公告）號: CN101907509A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發明（設計）人: 文勝云;肖攀
• 申請（專利權）人: 成都九洲迪飛科技有限責任公司
• 主分類號: G01M7/02
• 分類號: G01M7/02;G01M7/06
• 代理公司: 成都立信專利事務所有限公司 51100
• 代理人: 黃立

技術領域

本發明涉及電子通信領域，特別是一種用于晶振檢測的晶振振動測試夾具。

背景技術

晶體振蕩器(簡稱晶振)種類很多，多為專業廠家生產。目前國內生產廠家不多，電子行業使用的晶振大都是進口，因此價值昂貴。針對價值昂貴的晶振，其質量是否滿足產品需要，需要對其進行驗證。許多電子產品都要進行振動試驗，驗證在運輸和生產使用過程中能否穩定可靠。在工作實踐中，經常會發生產品振動試驗后晶振不工作的現象。對于較復雜的產品，一旦質量較差的晶振裝在機器上出現故障，更換是較為困難的。

目前，生產電子產品的企業有上規模的例行實驗室的不多，產品振動試驗臺一般都用于整機振動試驗，其夾具都是自行設計。一般企業沒有例行實驗室，許多試驗都只能進行外協。一只一只的進行振動試驗將大大增加成本，且外協廠家也不可能有合適的夾具供企業使用。獨立的晶振要進行振動試驗是很困難的，原因是它很小、重量輕，沒有專用的夾具來夾持無法操作，有夾持工具也只能同時夾持幾個進行試驗。

針對這個問題，我們根據振動臺的大小，為省時、省電、省成本，設計了可以一次性振動30只，安全可靠的晶振振動測試夾具。

但目前在市場上倘無能對晶振進行振動實驗的工具，因此無法在生產前剔除有故障晶振，亦無法測試其能否滿足產品需要條件。

發明內容

本發明旨在解決目前對晶振進行振動實驗極為困難、批量振動實驗效率低、成本高等技術問題，以提供一種效率高、一次可進行數十只晶振振動實驗、安全可靠的晶振振動測試夾具。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的。

本發明的晶振振動測試夾具，由定位板1、壓板2、墊板3和連接件構成，被測晶振4排布在設于上部的定位板1和設于下部的墊板3之間，墊板3下方設有壓板2；前述定位板1、壓板2、墊板3由數組連接件固定連接，每組連接件由螺釘5和螺母6構成，螺釘5穿過定位板1、壓板2、墊板3上相應開孔，與螺母6在定位板1上相連接；定位板1上設有與被測晶振4的晶振引腳7相配合的開孔。

本發明的晶振振動測試夾具，其中所述的被測晶振4為30只，按橫向5只、縱向6只的方式排布于定位板1和墊板3之間，每只被測晶振4引腳數為4，分別穿過定位板1上的相應開孔，孔的直徑比引腳直徑大0.2～0.4mm。

本發明的晶振振動測試夾具，其中所述的壓板2為金屬板，其與定位板1大小和重量均相同。

本發明的晶振振動測試夾具，其中所述的墊板3為防靜電的柔性材料。

本發明的晶振振動測試夾具，其中所述的連接件為五組，分別設于定位板1的四角和中心位置。

本發明的晶振振動測試夾具，其中所述螺釘5與壓板2之間設有彈墊和平墊。

本發明晶振振動測試夾具的有益效果：

1.可以一次性對數十只晶振同時進行振動實驗；

2.省時、省電、省成本；

3.安全可靠。

附圖說明

圖1本發明的結構原理圖

圖2本發明的定位板示意圖

圖3本發明的壓板示意圖

圖4本發明的墊板示意圖

圖中標號說明：

1定位板、2壓板、3墊板、4被測晶振、5螺釘、6螺母、7晶振引腳

具體實施方式

本發明詳細結構、應用原理、作用與功效，參照附圖1-4，通過如下實施方式予以說明。

參閱圖1-4所示，本發明的晶振振動測試夾具，由定位板1、壓板2、墊板3和連接件構成，30只被測晶振4按橫向5只、縱向6只的方式排布在設于上部的定位板1和設于下部的墊板3之間，每只被測晶振4引腳數為4，分別穿過定位板1上的相應開孔。墊板3下方設有壓板2；前述定位板1、壓板2、墊板3由五組連接件固定連接，連接件分別設于定位板1的四角和中心位置，每組連接件由螺釘5和螺母6構成，螺釘5穿過定位板1、壓板2、墊板3上相應開孔，與螺母6在定位板1上相連接，螺釘5與壓板2之間設有彈墊和平墊；定位板1上設有與被測晶振4的晶振引腳7相配合的開孔。

振動的目的是觀察被測晶振4內部結構、線路及裝配質量，因此根據其結構設計定位引腳的位置，振動時將引腳穿入定位板1相應的孔中，孔的直徑比引腳直徑大0.2～0.4mm。

晶振引腳7被定位板1定位后，為避免被測晶振4滑落，即在被測晶振4背部壓與定位板1大小和重量均相同的金屬壓板2。

晶振為金屬外殼，壓板2也為金屬材料，兩者緊密結合，再進行振動產生摩擦，會造成晶振外觀損傷或造成晶振內部損傷。因此選擇有一定厚度、一定彈性和具有防靜電效果的材料(即墊板3)貼在壓板上。