[發明專利]物體檢測系統及物體檢測方法無效
| 申請號: | 201010231427.4 | 申請日: | 2010-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN101968624A | 公開(公告)日: | 2011-02-09 |
| 發明(設計)人: | 田口步 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G03H1/00 | 分類號: | G03H1/00;G02B5/32 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人: | 陳桂香;武玉琴 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物體 檢測 系統 方法 | ||
1.一種物體檢測系統,其包括:
光發射部,它用于向物體發射呈二維圖案的光;
光掃描塊,它用于通過在預先確定的空間內連續地改變所述呈二維圖案的光的發射方向來執行掃描操作;
光反射體,它附設在所述物體上的預定位置處以用作檢測對象,并用于將所述呈二維圖案的光沿著與所述呈二維圖案的光的所述發射方向相反的方向反射;
反射光檢測部,它用于檢測被所述光反射體反射而成為到達所述反射光檢測部的光的所述光;以及
反射光分析部,它用于基于代表著被所述反射光檢測部檢測到的所述反射光的信號,來計算所述光反射體的垂直方向角度和水平方向角度,所述垂直方向角度和所述水平方向角度分別是由從所述光發射部到所述光反射體的連線與分別處于垂直方向或水平方向上的基準線形成的。
2.如權利要求1所述的物體檢測系統,其中所述二維圖案被配置成包括代碼序列,所述代碼序列是通過使用表示正方形圖案的有無的二維M序列隨機數而生成的。
3.如權利要求1所述的物體檢測系統,其中所述反射光分析部進行如下計算:
通過識別所述代碼序列,計算所述光反射體的所述垂直方向角度和所述水平方向角度之中的一者;以及
通過檢測被識別的所述代碼序列的相移,計算所述光反射體的所述垂直方向角度和所述水平方向角度之中的另一者。
4.如權利要求1所述的物體檢測系統,其中所述反射光分析部通過以下方式來計算所述垂直方向角度和所述水平方向角度:
針對所述代碼序列中的每一者,求出代表著被檢測到的所述光的所述信號的傅立葉變換信號的復共軛與對應于被檢測到的所述光的所述代碼序列的傅立葉變換代碼序列之間的內積;以及
對所述內積中的每一者進行逆傅立葉變換處理。
5.如權利要求1所述的物體檢測系統,其中所述反射光分析部根據由所述代碼序列之中的特定一者所產生的光的輸出水平與由所述代碼序列之中的另一者所產生的光的輸出水平的比率,通過內分來計算出值以求出所述光反射體的垂直方向方位。
6.如權利要求1所述的物體檢測系統,其中所述物體檢測系統包括:
兩對構件,其中每一對均由所述光發射部和所述光掃描塊構成;以及
位置檢測構件,它用于對于各自都由所述光發射部和所述光掃描塊構成的所述兩對構件之中的每一對,根據作為所述光反射體的所述垂直方向角度和所述水平方向角度而從代表著所述反射光的所述信號求出的垂直方向角度和水平方向角度,來計算所述光反射體在三維坐標系中的位置。
7.一種物體檢測方法,其包括以下步驟:
向物體發射呈二維圖案的光;
通過在預先確定的空間內連續地改變所述呈二維圖案的光的發射方向來執行掃描操作;
使附設在所述物體上的預定位置處的檢測對象將所述呈二維圖案的光沿著與所述呈二維圖案的光的所述發射方向相反的方向反射;
檢測來自所述檢測對象的所述反射光;以及
基于代表著被檢測到的所述反射光的信號,計算所述檢測對象的垂直方向角度和水平方向角度,所述垂直方向角度和所述水平方向角度分別是由從用于發射所述呈二維圖案的光的光發射部到所述檢測對象的連線與分別位于垂直方向或水平方向上的基準線形成的。
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