[發明專利]一種檢驗有接觸要求的凸、凹球面的檢具結構無效
| 申請號： | 201010230804.2 | 申請日： | 2010-07-14 |
| 公開（公告）號： | CN101893418A | 公開（公告）日： | 2010-11-24 |
| 發明（設計）人： | 衡井武;王建梅 | 申請（專利權）人： | 無錫創明傳動工程有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/00 | 分類號： | G01B5/00;G01B5/252 |
| 代理公司： | 無錫市大為專利商標事務所 32104 | 代理人： | 殷紅梅 |
| 地址： | 214028 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢驗 接觸 要求 球面 結構 | ||
【權利要求書】：
1.一種檢驗有接觸要求的凸、凹球面的檢具結構，其特征是：包括定位銷(1)、環規(2)、塞規(3)，所述塞規(3)安裝在環規(2)內，通過定位銷(1)將環規(2)和塞規(3)進行定位，所述環規(2)和塞規(3)同心度。
2.根據權利要求1所述的一種檢驗有接觸要求的凸、凹球面的檢具結構，其特征在于所述的塞規(3)的外球面上均勻涂抹紅丹油。
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