[發(fā)明專利]碳納米管團(tuán)簇作芯片凸點(diǎn)的倒裝芯片封裝結(jié)構(gòu)的制作方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010229511.2 | 申請(qǐng)日: | 2010-07-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101916735A | 公開(公告)日: | 2010-12-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭洪巖;賴志明;陳錦輝;張黎;陳棟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江陰長(zhǎng)電先進(jìn)封裝有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/60 | 分類號(hào): | H01L21/60 |
| 代理公司: | 江陰市同盛專利事務(wù)所 32210 | 代理人: | 唐紉蘭 |
| 地址: | 214434 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 管團(tuán)簇作 芯片 倒裝 封裝 結(jié)構(gòu) 制作方法 | ||
1.一種碳納米管團(tuán)簇作為芯片凸點(diǎn)的倒裝芯片封裝結(jié)構(gòu)的制作方法,其特征在于所述方法包含以下三個(gè)步驟:
步驟一、在襯底上生長(zhǎng)碳納米管團(tuán)簇陣列
首先在襯底上形成掩膜,該掩膜根據(jù)芯片上芯片端子的分布來設(shè)計(jì),然后在形成掩膜的襯底上生長(zhǎng)碳納米管團(tuán)簇陣列,碳納米管團(tuán)簇陣列生長(zhǎng)結(jié)束后將掩膜移除,至此便得到了與芯片端子分布相同的碳納米管團(tuán)簇陣列;
步驟二、將步驟一得到的碳納米管團(tuán)簇陣列轉(zhuǎn)移到芯片表面
首先在芯片表面涂布一層第一導(dǎo)電膠或?qū)щ娔ぃ缓髮⒉襟E一得到的碳納米管團(tuán)簇陣列與芯片上對(duì)應(yīng)的芯片端子對(duì)準(zhǔn)后粘連到芯片表面,粘連結(jié)束后將襯底去除,最終在芯片表面制備了碳納米管團(tuán)簇凸點(diǎn);
步驟三、將具有碳納米管團(tuán)簇凸點(diǎn)的芯片倒裝到基板上
首先在基板上涂布一層第二導(dǎo)電膠或?qū)щ娔ぃ缓髮⒉襟E二制備的具有碳納米管團(tuán)簇凸點(diǎn)的芯片倒裝到基板上,倒裝結(jié)束后,用底填料填充所述凸點(diǎn)的間隙,最后在基板背面的焊盤上放置焊球并回流,得到碳納米管團(tuán)簇作為芯片凸點(diǎn)的倒裝芯片封裝結(jié)構(gòu)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





