[發明專利]基于擴頻反射的導線絕緣故障檢測方法及裝置

無效

• 申請號: 201010225090.6
• 申請日: 2010-07-02
• 公開（公告）號: CN101900776A
• 公開（公告）日: 2010-12-01
• 發明（設計）人: 張俊民;周小猛
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/11
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于擴頻反射的導線絕緣故障檢測方法，其特征在于：使用多級移位寄存器生成m序列；用m序列調制正弦波；向被測導線的一端發送已調m序列作為故障檢測信號；在發送端采樣接收信號；計算接收信號和檢測信號的互相關函數；根據互相關函數波形上尖峰的位置和幅值判斷導線故障的位置和嚴重程度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述調制為BPSK調制。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，正弦波的頻率與m序列的碼速率相同。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，采用CPLD芯片計算接收信號和檢測信號的互相關函數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在CPLD芯片中計算互相關函數時，需要將接收信號截取一定長度，該長度由芯片存儲容量和被測導線總長決定，通常為2～3個序列周期。

6.一種基于擴頻反射的導線絕緣故障檢測裝置，用于實時判定絕緣故障的準確位置和嚴重程度，其特征在于，包括：時鐘電路，濾波電路，m序列生成電路，BPSK調制和發射電路，采樣電路，CPLD芯片和顯示設備，其中：

時鐘電路用于產生頻率較高的時鐘信號；

濾波電路用于過濾時鐘信號的高次諧波，得到正弦基波，并將其送入BPSK調制和發射電路中；

m序列生成電路在時鐘信號的作用下，生成對應碼速率下的m序列；

BPSK調制和發射電路使用m序列調制正弦基波，得到已調m序列，作為故障檢測信號發射至被測導線中；

采樣電路用于采集被測導線上的接收信號，將其轉換為數字形式后送入CPLD中；

CPLD芯片用于計算接收信號和檢測信號的互相關函數，并將結果輸出至顯示設備；

顯示設備用于顯示互相關函數波形，通過該波形便可以發現并分析故障。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述m序列生成電路由多級線性反饋移位寄存器構成，在時鐘信號的作用下，移位寄存器不斷移位，并將輸出通過一定的函數關系反饋給輸入，產生碼速率和周期固定的m序列。

8.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，該裝置在使用時直接連接至被測導線的一端上，向導線發送故障檢測信號并接收其反射回的信號。

9.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述BPSK調制和發射電路由四象限模擬乘法器構成。