[發明專利]SAS接口測試治具

無效

• 申請號: 201010223255.6
• 申請日: 2010-07-13
• 公開（公告）號: CN102331962A
• 公開（公告）日: 2012-01-25
• 發明（設計）人: 趙泓;黃正宗;何瑞雄;蘇旺丁;黃柏凱
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種測試治具，尤其涉及一種SAS接口測試治具。

背景技術

目前，一般通過測試探針來測試串行連接小型計算機系統接口(serialattached?small?computer?systems?interface，SAS)連接器的引腳的信號。然而，由于SAS連接器外圍一般設有金屬外殼，金屬外殼高度比SAS連接器高，而SAS連接器的引腳卻位于SAS連接器下端與電路板相焊接的焊接處，從而使測試探針較難直接、準確地碰觸到SAS連接器的引腳，進而影響測試質量。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種可以方便準確測試主機板上的SAS接口的SAS接口測試治具。

一種SAS接口測試治具，其包括一個SAS連接器、至少一根傳輸線纜及至少一個SMA反級性公頭，所述至少一根傳輸線纜一端與所述SAS連接器電性連接，所述至少一根傳輸線纜另一端與所述至少一個SMA反級性公頭電性連接(所述SMA反級性公頭103為Sub-Miniature-A的簡稱，其為一種圓管狀接頭)。所述SAS連接器用于與主機板上的SAS接口對接，所述至少一個SMA反級性公頭用于連接至測試儀器。

與現有技術相比，本發明SAS接口測試治具的SAS連接器可以直接與主機板上的SAS接口對接，并通過SMA公頭連接至測試儀器，測試方便、準確，而且效率高。

附圖說明

圖1是本發明SAS接口測試治具連接至SAS接口與示波器的示意圖。

主要元件符號說明

SAS接口測試治具??????????????10

SAS連接器????????????????????101

傳輸線纜?????????????????????102

SMA反級性公頭????????????????103

主機板???????????????????????20

SAS接口??????????????????????30

示波器???????????????????????40

示波器輸入端?????????????????401

具體實施方式

下面將結合附圖對本發明作進一步詳細說明。

請參閱圖1，本發明提供的一種SAS接口測試治具10，其用于將一個待測試的主機板20的信號傳輸至一個示波器40。

所述SAS接口測試治具10包括一個SAS連接器101、傳輸線纜102、SMA反級性公頭103。所述傳輸線纜102一端與所述SAS連接器101電性連接，所述傳輸線纜102另一端與所述SMA反級性公頭103電性連接。所述SMA反級性公頭103為Sub-Miniature-A的簡稱，其為一種呈圓管狀接頭。所述SMA反級性公頭103上設有內螺紋及位于中心軸位置的插針。可以理解的是，所述SMA反級性公頭103也可以是設有外螺紋，中心軸位置設有插孔的結構。SAS連接器101用于連接至待測試主機板20上的一個SAS接口30。SMA反級性公頭103用于連接示波器40。傳輸線纜102通過焊接方式與SAS連接器101及SMA反級性公頭103相連。

所述SAS連接器101包括至少一絕緣本體(未圖示)，及若干導電端子(未圖示)，其中所述導電端子有多個信號端子(未圖示)。

所述傳輸線纜102優選的為銅質材料，設有4對即8根，所述傳輸線纜102通過焊接方式連接至SAS連接器101的信號端子的焊接部，所述傳輸線纜102的另一端通過焊接方式連接至SMA反級性公頭103。

本實施方式中，每一傳輸線纜102分別連接一個SMA反級性公頭103，即SAS接口測試治具10共設有8個SMA反級性公頭103。

所述示波器40為一種測試儀器，其設有8個與SMA反級性公頭對應的示波器輸入端401。例如，所述SMA反級性公頭103為圓管狀具有內螺紋及位于中心軸位置的插針的構造，則示波器輸入端401為圓管狀具有外螺紋及位于中心軸位置的插孔的構造。所述示波器40用于通過SAS接口30測試主機板20的訊號，所述訊號包括眼圖、電壓轉換率Slew?Rate、和Jitter等參數。Jitter是來自于一個參考事件與理想時間的偏差，參考事件是電子事件的微分零點交叉口(differential?zero?crossing)和光學系統的標稱接收門限功率電平。Jitter是由確定性內容和高斯(隨機)內容組成的。