[發(fā)明專利]新型按鍵板自動測試裝置及其測試電路

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010221433.1
• 申請日: 2010-07-08
• 公開（公告）號: CN101881810A
• 公開（公告）日: 2010-11-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沙立明;王建平
• 申請（專利權(quán)）人: 福建捷聯(lián)電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/327
• 代理公司: 福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100
• 代理人: 蔡學(xué)俊

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種新型按鍵板自動測試裝置及其測試電路，適用于液晶顯示器、液晶電視電路板的測試。

背景技術(shù)

目前，按鍵板目前的調(diào)試方法為手動作業(yè)測試，即先手工給按鍵板接供電電源（每板都需各通電一次），待按鍵板通電后，逐個按按鍵板上的按鍵，人工看手動測試治具量測電壓是否正常。上述方法平均測試時間為12秒/件，手動測試時間長，測試效率低，并且采用手動形式，自動化程度低。因此，如何解決上述問題是本發(fā)明的研究對象。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種測試耗時少，自動化程度高的新型按鍵板自動測試裝置。

本發(fā)明的特征在于：一種新型按鍵板自動測試裝置，包括被測電路板，其特征在于：所述被測電路板底側(cè)安裝有針板，所述針板上設(shè)置有使被測電路板被測觸點與測試線路相連接的電極頂針，所述被測電路板上方的機架上設(shè)置有可升降壓板機構(gòu)，所述可升降壓板機構(gòu)下方設(shè)置有分別與被測電路板上側(cè)的各組按鍵觸點閉合接觸的按鍵。

本發(fā)明的另一目的是提供一種新型按鍵板自動測試電路，該電路能快速準(zhǔn)確的檢測被測試板中按鍵的好壞。

本發(fā)明采用以下兩種方案，實現(xiàn)上述目的，第一種是：一種新型按鍵板自動測試電路，包括具有復(fù)數(shù)個按鍵的被測電路板、單片機及與單片機相連的A/D轉(zhuǎn)換模塊，其特征在于：所述的單片機輸出端與可升降壓板機構(gòu)的驅(qū)動電路連接，所述復(fù)數(shù)個按鍵分別經(jīng)一電阻與電源連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換模塊的輸出端與電性連接于按鍵和電阻之間的電極頂針，用于檢測各電阻的電壓。

第二種是：一種新型按鍵板自動測試電路，包括具有復(fù)數(shù)個按鍵的被測電路板、單片機及與單片機相連的A/D轉(zhuǎn)換模塊，其特征在于：所述的單片機輸出端與可升降壓板機構(gòu)的驅(qū)動電路連接，所述的A/D轉(zhuǎn)換模塊的輸出端經(jīng)電極頂針串接復(fù)數(shù)個電阻，所述的復(fù)數(shù)個按鍵的輸出端分別并接于該復(fù)數(shù)個電阻之間，以使A/D轉(zhuǎn)換模塊根據(jù)不同按鍵按下的情況檢測出不同的電阻電壓。

本發(fā)明的優(yōu)點：本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，測試時間少，能同時檢測多組按鍵板，工作效率高，且自動化程度高，可有效減少生產(chǎn)成本，提升競爭力。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為圖1的Ⅰ向局部放大視圖。

圖3是本發(fā)明實施例一測試電路圖。

圖4是本發(fā)明實施例二測試電路圖。

圖5是本發(fā)明實施例三測試電路圖。

具體實施方式

參考圖1和圖2，一種新型按鍵板自動測試裝置，包括被測電路板1，所述被測電路板1底側(cè)安裝有針板2，所述針板2上設(shè)置有使被測電路板1被測觸點與測試線路相連接的電極頂針3，所述被測電路板1上方的機架4上設(shè)置有可升降壓板機構(gòu)5，所述可升降壓板機構(gòu)5下方設(shè)置有分別與被測電路板1上側(cè)的各組按鍵觸點閉合接觸的按鍵6。

上述針板2上側(cè)設(shè)置有彈性墊塊7和安裝在彈性墊塊7的具有頂針穿孔8-1的護板8，所述電極頂針3穿過護板針孔8-1與放置在護板8上側(cè)的被測電路板1各觸點接觸。

上述可升降壓板機構(gòu)5包括按鍵升降支架裝置5-1和升降壓塊機構(gòu)5-2，所述按鍵升降支架裝置5-1包括升降壓板5-1-1，所述升降壓板5-1-1底側(cè)經(jīng)彈性墊塊5-1-2連接具有按鍵觸桿6-1插孔5-1-3)的按鍵護板5-1-4，所述升降壓板5-1-1上側(cè)經(jīng)彈性墊塊5-1-2連接有與按鍵觸桿6-1上端部相連接的上壓板5-1-5，所述升降壓板5-1-1經(jīng)連桿5-1-6與由固設(shè)于機架4上的氣缸A5-1-7驅(qū)動的壓塊A5-1-8連接，所述升降壓塊機構(gòu)5-2的壓塊B5-2-1由固設(shè)于壓塊A5-1-8上的氣缸B5-2-2驅(qū)動升降，所述升降壓塊機構(gòu)的壓塊B5-2-1位于所述升降壓板5-1-1上方。

上述升降壓塊機構(gòu)可為兩組或多組，其壓塊分別由固設(shè)于氣缸A驅(qū)動的壓塊上的氣缸驅(qū)動升降。如實施例所示，圖示為兩組升降壓塊機構(gòu)，其壓塊分別由氣缸B和氣缸C驅(qū)動升降。

實施例具體實施過程如下：通過氣缸A5-1-7驅(qū)動壓塊5-1-8下壓，由于升降壓板5-1-1經(jīng)連桿5-1-6與壓塊5-1-8連接，升降壓板同時下壓，把被測電路板壓下使被測電路板的觸點與針板上的探針接觸，進行供電；

接下來氣缸B(左邊的)先下壓，使按鍵6下壓被測電路板1的觸點，通過開關(guān)組和內(nèi)部控制電路，實現(xiàn)對氣缸B下電路板觸點的測試和氣缸C（右邊的）未下壓情況下電路板上電阻的測試，測試完，氣缸B上升，氣缸C下壓，（測試原理同氣缸B），測試完后提升氣缸A，這樣即可實現(xiàn)對兩塊電路板觸點及電阻的測試。