[發(fā)明專利]一種新型的視覺相機對位的檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010220158.1 | 申請日: | 2010-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN102313513A | 公開(公告)日: | 2012-01-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 盧冬青 | 申請(專利權)人: | 上海功源電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/02;G01C15/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201109 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 視覺 相機 對位 檢測 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明是一種新型的CCD的檢測方法的應用,名稱為CCA輔助對位檢測系統(tǒng)(CCD?Calibration?Alignment,以下簡稱CCA),是建立在相機CCD輔助影像定位基礎之上的檢測系統(tǒng),屬于光機電一體化中檢測技術領域。
它利用CCD相機對已確定的圖案和標志進行校正,比對需檢測的圖案的特征值,將檢測圖像結果傳給CCA檢測系統(tǒng)計算機PC,運用CCA輔助對位檢測系統(tǒng)軟件,計算出兩圖案位置偏移量,并以確認的數(shù)據(jù)格式輸出。
該開放式的數(shù)據(jù)格式可以按后續(xù)加工的特點,進行多格式編輯。例如:可輸出給激光半導體矩陣式料條的標刻位參數(shù)校正,以便激光進行單個標刻位置調(diào)整,提高的標刻位置質(zhì)量和精度。
CCA檢測系統(tǒng)是因激光標刻高精度要求而開發(fā)的,CCD檢測精度優(yōu)于+/-1-3um,可以提高極小(微)型高端封裝的激光標刻的成品率和激光標刻的一致性。CCA是專業(yè)用于器件位置檢測的系統(tǒng),可選不同分辨率的CCD組合和安裝位達到不同的應用目的,例如:
A、上下對位可以檢測零件的上下的合軸尺寸的偏差;
B、單相機配合XY平臺,分步可以檢測器件的標定位的誤差。
背景技術
激光標刻技術是激光加工最大的應用領域之一。激光標刻技術是利用高能量密度的激光對工件進行局部照射,使表層材料氣化或發(fā)生顏色變化的化學反應,從而留下永久性標記的一種標刻方法。激光可以打出各種文字、符號和圖案等,字符大小可以從毫米到微米量級,這對產(chǎn)品的防偽有特殊的意義。
激光能標記何種信息,僅與計算機里設計的內(nèi)容相關,只要計算機里設計出的圖形是打標系統(tǒng)能夠識別的,那么打標機就可以將設計信息精確地還原在合適的載體上。因此軟件的功能實際上很大程度上決定了系統(tǒng)的功能。
激光標刻技術已被廣泛的應用于各行各業(yè),為優(yōu)質(zhì)、高效、無污染和低成本的現(xiàn)代加工生產(chǎn)開辟了廣闊的前景。隨著現(xiàn)代激光標刻應用領域的不斷擴展,對激光制造的設備系統(tǒng)小型化,高效率和集成化的要求也越來越高,新型高功率光纖激光技術的開發(fā)成功,必將對此產(chǎn)生極大的推動。
隨著技術的不斷發(fā)展,加工設備的不斷更新,CNC被大量使用,使得原來只能依靠進口國外機器的時代漸行漸遠,中國造機器的加工精度已經(jīng)可以達到0.01~0.02mm的精度,加之較好的價格優(yōu)勢,越來越多的企業(yè)日益傾向中國制造。但是隨著技術的不斷發(fā)展,在一些高科技、高精度行業(yè)對標刻技術提出了更高的要求,單純的機械定位精度已經(jīng)不能滿足客戶的要求,CCA檢測系統(tǒng)是在對極小(微)型高端封裝的激光標刻的應用中應運而生。在激光標刻行業(yè)領域中,優(yōu)質(zhì)的極性標刻是封裝的基本要求,正確完整清晰可辨是器件標刻的基本規(guī)范,全自動化系統(tǒng)是標刻高產(chǎn)能、高質(zhì)量的保證,檢測系統(tǒng)的配備是標刻結果和質(zhì)量的一致性得到保障和檢驗。
CCA系統(tǒng)是在國內(nèi)的封裝產(chǎn)業(yè)共同挑戰(zhàn)SIP、BGA、CSP、WLP封裝的工藝經(jīng)驗和相應的設備保障的基礎上發(fā)明的,它結合了近兩年來先進的激光技術,并隨著CCD的廣泛應用和功能的標準化不斷進步而發(fā)展,可應對極小型封裝的高精度標刻要求。CCA綜合了現(xiàn)有的CCDP技術,應用于WLP封裝生產(chǎn)質(zhì)量管理中,其CCD檢測精度優(yōu)于+/-1-3um,該CCD檢測技術將是國際、國內(nèi)獨創(chuàng)的專業(yè)應用于產(chǎn)業(yè)化的系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是國際、國內(nèi)獨創(chuàng)的輔助對位檢測方法,其主要是應用CCD相機檢測產(chǎn)品的中心和標刻圖案的中心,將檢測數(shù)據(jù)傳送給計算機PC,利用CCA輔助對位檢測系統(tǒng)的軟件來計算這兩者之間的位差,并記錄相應的檢測結果,從而達到位置檢測目的,它可擴展連接激光控制器,自動補償和校正標刻位差。
使用方法一:上下對位檢測零件的上下的合軸尺寸的偏差
1、第一種方法主要是應用兩個CCD相機,這兩個CCD相機安裝在產(chǎn)品的兩側,將這兩個CCD相機同時對準產(chǎn)品,并使用校準軟件確保兩個CCD相機的安裝精度<+/-1~3um。
2、激光標刻完第一個產(chǎn)品后送至CCA系統(tǒng)進行檢測,一側的CCD相機根據(jù)管腳的位置來確定料片的中心位置,另一側的CCD相機用來確定標刻圖案的中心位置,通過比對這兩個中心位置來計算激光標刻圖案的偏移量。
3、當檢測完所有的標刻圖案之后,CCA系統(tǒng)將所有的偏移量生成一個位置偏移量Mapping,并通過數(shù)據(jù)連接口和連接電纜將Mapping傳送給激光器的PC,激光器根據(jù)位置偏移量Mapping進行校正補償,這樣激光器就能精確地將標刻內(nèi)容定位在工件的相應位置上。
使用方法二:單相機配合XY平臺,分步檢測器件的標定位的誤差
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海功源電子科技有限公司,未經(jīng)上海功源電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010220158.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





