[發明專利]用于多通道磁共振發送系統的特殊吸收率計算

有效

• 申請號: 201010218353.0
• 申請日: 2010-06-28
• 公開（公告）號: CN101933807A
• 公開（公告）日: 2011-01-05
• 發明（設計）人: 馬賽厄斯·格布哈特;馬庫斯·維斯特
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于具有多個天線元件(T×Ch?1至T×CH?8)的磁共振斷層造影發送系統(1)的SAR確定的方法，

其中，對于多個時刻或時間段(t₁，t₂，t₃，t₄)分別確定一個(1*64)互相關矩陣(T；T₁，T₂，T₃，T₄)，

其包含磁共振斷層造影發送系統(1)的多個天線元件(T×Ch?1至T×CH?8)的分別一個天線元件值(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅，U₆，U₇，U₈)分別與一個天線元件值(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅，U₆，U₇，U₈)的乘積作為元素，

其中，將這些單列(1*64)的互相關矩陣(T；T₁，T₂，T₃，T₄)在求和時間段(圖3，100ms)上相加為一個和互相關矩陣(T_SUM)，

其中，將所述和互相關矩陣(T_SUM)與熱區靈敏度矩陣相乘，其中，熱區靈敏度矩陣的元素分別代表在一個位于(3)磁共振斷層造影發送系統(1)中的對象(5)中的多個熱區點(HS1...HS8；HS1...HS300；8，9，10)上分別在至少一個方向(x，y，z)上的靈敏度(zz)，

其中，將所述和互相關矩陣(T_SUM)和熱區靈敏度矩陣的乘積與代表在至少一個熱區點(HS1)上的介電常數(s)的值相乘，以便對于熱區點(HS1...HS300)分別確定一個SAR值(SAR(3×300)×1；SARxyz(300×1))，

其中，在至少一個SAR值(SAR(3×300)×1；SARxyz(300×1))超過預定的上限時將在至少一個天線元件(T×Ch?1至T×CH?8)上施加的電壓(U₁，U₂，U₃，U₄，U₅，U₆，U₇，U₈)或者在至少一個天線元件(T×Ch?1至T×CH?8)中流過的電流降低或斷開。

2.根據權利要求1所述的方法，

其中，在對于完整的發送脈沖(1*64)的時刻或時間段(t₁，t₂，t₃，t₄)的檢查期間，將互相關矩陣(T；T₁，T₂，T₃，T₄)在發送脈沖的持續時間之上累加為一個和互相關矩陣(T_SUM)，

并且，將和互相關矩陣(T_SUM)與熱區靈敏度矩陣并且與代表了在至少一個熱區點(HS1)上的介電常數(s)的介電常數參數(s)相乘，以便確定對于熱區點(HS1...HS300)的SAR值(SAR)，

其中，在至少一個SAR值(HS1的SARxyz)超過預定的邊界時不發送發送脈沖(“預測未來計算”)。

3.根據上述權利要求中任一項所述的方法，

其中，在利用磁共振斷層造影發送系統(1)照射(T×Ch?1至T×CH?8)對象(5)期間重復地對于相繼的時間段(t₁，t₂，t₃，t₄)確定在熱區(HS1...HS8)的SAR值(SAR)，

其中，在至少一個熱區(HS1)上的SAR值超過預定的邊界時降低或斷開在天線元件(T×Ch?1至T×CH?8)上施加的電壓或在天線元件(T×Ch?1至T×CH8)中流過的電流(“在線監視器”)。