[發明專利]激光冷熱金屬檢測器

無效

• 申請號: 201010215618.1
• 申請日: 2010-06-29
• 公開（公告）號: CN102313890A
• 公開（公告）日: 2012-01-11
• 發明（設計）人: 王智
• 申請（專利權）人: 上海派恩科技有限公司
• 主分類號: G01S17/06
• 分類號: G01S17/06;G01S7/48;G01S7/51
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 楊元焱

技術領域

本發明涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種激光冷熱金屬檢測器。

背景技術

冷熱金屬檢測器廣泛應用于工業控制生產流水線的現場，是一種利用可見激光技術檢測物體的存在或者給物體精確定位的儀器。

冷熱金屬檢測器一般由激光發射模塊、激光接收處理模塊和反饋輸出模塊三部分組成。激光發射模塊包括激光驅動電路和半導體激光模塊；激光接收模塊包括光敏接收管和信號輸出處理電路；反饋輸出模塊包括輸出驅動電路和輸出顯示電路。冷熱金屬檢測器通過激光發射模塊連續發射激光信號，判斷激光接收模塊是否接收到發射的激光信號，從而控制是否輸出反饋信號來檢測物體的存在或是給物體定位。

傳統的激光檢測裝置采用可見半導體激光器作光源，經調節器調制后發出一束準平行可見紅色激光，激光經過反射被光敏管接收或是直射被光敏接收，信號經過放大處理后輸出一個開關量反饋控制信號。由于傳統的激光檢測裝置只是簡單地對信號繼續處理，它存在著以下缺陷：1、抗干擾能力差；2、測量精度不高；3、容易發生誤動作。

發明內容

本發明的目的，就是為了克服以上現有技術存在的缺陷而提供一種抗干擾能力強、測量精度高、準確性好的激光冷熱金屬檢測器。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：一種激光冷熱金屬檢測器，包括微控制器、電源模塊、調制驅動器、半導體激光模塊、光敏接收器、濾波器、運算放大器、調制解調器和輸出模塊；電源模塊與微控制器電連接向微控制器提供電源；調制驅動器的一個輸出端連接微控制器的一個輸入端，調制驅動器的另一個輸出端連接半導體激光模塊的輸入端；光敏接收器設置在半導體激光模塊的激光發射光路上用于接收帶調制信號的可見激光，光敏接收器的輸出端連接濾波器的輸入端；濾波器的輸出端連接運算放大器的輸入端；運算放大器的輸出端連接調制解調器輸入端；調制解調器的輸出端連接微控制器的另一輸入端；輸出模塊的輸入端連接微控制器的另一輸出端；輸出模塊采用LED顯示輸出或開關模擬量輸出。

所述的微控制器選用microchip公司的PIC16F71或PIC16C712。

所述的調制解調器選用LM567。

所述的半導體激光模塊選用Sigma激光模塊。

所述的光敏接收器選用PIN-07FSLR。

所述的運算放大器選用LM6082或LM6084。

所述的微控制器內設有模擬量信號采集模塊和A/D信號轉換模塊，微控制器對兩路輸入信號進行處理判斷，確定是否向輸出模塊輸出顯示信號或驅動信號，輸出模塊接收到顯示信號后，采用LED顯示輸出；輸出模塊接收到驅動信號后，采用開關模擬量輸出。

本發明一種激光冷熱金屬檢測器由于采用了以上技術方案，具有抗干擾能力強、響應速度快、測量精度高的優點；適合在極其惡劣的環境下使用，而且可以徹底消除誤動作。

附圖說明

圖1為本發明激光冷熱金屬檢測器的結構框圖。

具體實施方式

下面結合附圖及具體實施例對本發明作進一步說明。

參見圖1，本發明一種激光冷熱金屬檢測器，包括微控制器1、電源模塊2、調制驅動器3、半導體激光模塊4、光敏接收器5、濾波器6、運算放大器7、調制解調器8和輸出模塊9。電源模塊2與微控制器1電連接向微控制器提供電源；調制驅動器3的一個輸出端連接微控制器1的一個輸入端，調制驅動器3的另一個輸出端連接半導體激光模塊4的輸入端。光敏接收器5設置在半導體激光模塊4的激光發射光路上用于接收帶調制信號的可見紅外激光，光敏接收器5的輸出端連接濾波器6的輸入端。濾波器6的輸出端連接運算放大器7的輸入端。運算放大器7的輸出端連接調制解調器8的輸入端，調制解調器8的輸出端連接微控制器1的另一輸入端。輸出模塊9的輸入端連接微控制器1的另一輸出端，輸出模塊采用LED顯示輸出或開關模擬量輸出。

上述微控制器1選用microchip公司的PIC16F71或PIC16C712；調制解調器選用LM567；半導體激光模塊選用Sigma激光模塊；光敏接收器選用PIN-07FSLR；運算放大器選用LM6082或LM6084。