[發明專利]信號完整性測試系統及方法無效
| 申請號: | 201010210428.0 | 申請日: | 2010-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN102298090A | 公開(公告)日: | 2011-12-28 |
| 發明(設計)人: | 梁獻全;李昇軍;許壽國 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信號 完整性 測試 系統 方法 | ||
1.一種信號完整性測試系統,運行于控制電腦中,該控制電腦通過交換機與示波器和時域反射儀相連,其特征在于,該系統包括:
設置模塊,用于設置待測信號的測試參數及各測試參數的參考值范圍;
分析模塊,用于分析控制電腦的存儲器中存儲的測試文件,得到電子元件上的待測線路及各待測線路上測試點的坐標;
控制模塊,用于根據測試點的坐標信息控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到電子元件上該測試點所在待測線路的位置;
判斷模塊,用于接收示波器測試得到的待測信號的各測試參數在該測試點的參數值,將各測試參數在該測試點的參數值與設置的參考值范圍進行比較,判斷各參數值是否落入相應的參考值范圍,當各參數值均落入相應的參考值范圍時,判斷該測試點通過測試;
所述控制模塊,還用于當有測試參數在該測試點的參數值超出設置的參考值范圍時,利用時域反射儀測試該測試點的阻抗值;及
所述判斷模塊,還用于判斷該測試點的阻抗值是否落入該待測線路的阻抗值的標準范圍,以判斷該測試點是否通過測試。
2.如權利要求1所述的信號完整性測試系統,其特征在于,所述控制模塊利用時域反射儀測試該測試點的阻抗值包括:
控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針移出該電子元件;
根據測試點的坐標信息控制機械手臂的探針抓取裝置將時域反射儀的探針定位到電子元件上該測試點所在位置;及
接收時域反射儀測試得到的該測試點的阻抗值。
3.如權利要求1所述的信號完整性測試系統,其特征在于,該系統還包括存儲模塊,用于存儲各測試參數在該測試點的參數值、該測試點的阻抗值及該測試點是否通過測試的信息至所述存儲器。
4.如權利要求1所述的信號完整性測試系統,其特征在于,當該測試點的阻抗值落入該待測線路的阻抗值的標準范圍時,判斷模塊判斷該測試點通過測試,或者當該測試點的阻抗值超出該待測線路的阻抗值的標準范圍時,判斷模塊判斷該測試點未通過測試。
5.一種信號完整性測試方法,運行于控制電腦中,該控制電腦通過交換機與示波器和時域反射儀相連,其特征在于,該方法包括:
(A)設置待測信號的測試參數及各測試參數的參考值范圍;
(B)分析控制電腦的存儲器中存儲的測試文件,得到電子元件上的待測線路及各待測線路上測試點的坐標;
(C)根據測試點的坐標信息控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針定位到電子元件上該測試點所在待測線路的相應位置;
(D)接收示波器測試得到的待測信號的各測試參數在該測試點的參數值,將各測試參數在該測試點的參數值與設置的參考值范圍進行比較,判斷各參數值是否落入相應的參考值范圍;
(E)當各參數值均落入相應的參考值范圍時,判斷該測試點通過測試,直接轉入步驟(G),否則,當有測試參數在該測試點的參數值超出設置的參考值范圍時,利用時域反射儀測試該測試點的阻抗值;
(F)判斷該測試點的阻抗值是否落入該待測線路的阻抗值的標準范圍,以判斷該測試點是否通過測試;及
(G)判斷是否有其它測試點,若沒有其它測試點則流程結束,若有其它測試點,則控制機械手臂的探針抓取裝置將時域反射儀的探針移出該電子元件,并返回步驟(C)對其它測試點進行測試。
6.如權利要求5所述的信號完整性測試方法,其特征在于,步驟(E)中利用時域反射儀測試該測試點的阻抗值包括以下步驟:
(E1)控制機械手臂的探針抓取裝置將示波器的探針移出該電子元件;
(E2)根據測試點的坐標信息控制機械手臂的探針抓取裝置將時域反射儀的探針定位到電子元件上該測試點所在位置;及
(E3)接收時域反射儀測試得到的該測試點的阻抗值。
7.如權利要求5所述的信號完整性測試方法,其特征在于,該方法還包括步驟:
存儲各測試參數在該測試點的參數值、該測試點的阻抗值及該測試點是否通過測試的信息至所述存儲器。
8.如權利要求5所述的信號完整性測試方法,其特征在于,當步驟(F)判斷該測試點的阻抗值落入該待測線路的阻抗值的標準范圍時,則該測試點通過測試,或者當步驟(F)判斷該測試點的阻抗值超出該待測線路的阻抗值的標準范圍時,則該測試點未通過測試。
9.如權利要求5所述的信號完整性測試方法,其特征在于,所述待測信號的測試參數包括過沖、下沖、斜率、上升時間、下降時間、高電壓及低電壓。
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