[發明專利]光纖端面雙向定位和同步測試的測試方法

有效

• 申請號: 201010209400.5
• 申請日: 2010-06-24
• 公開（公告）號: CN102297655A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發明（設計）人: 沈奶連;王建財;涂建坤
• 申請（專利權）人: 上海電纜研究所;上海賽克力光電纜有限責任公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/08
• 代理公司: 上海光華專利事務所 31219
• 代理人: 王瑋

技術領域

本發明涉及一種測試方法，特別涉及一種光纖的幾何尺寸的測試方法。

背景技術

現有的光纖幾何尺寸測試方法所使用的裝置是兩個調節架、兩個透鏡、一光源和一CCD，光纖從內到外包括纖芯、包層和涂覆層，光纖的近端固定在調節架上，光纖的遠端固定在另一調節架上。光纖的近端端面正對一透鏡，透鏡的后面設置一光源。光纖的遠端的端面也正對一透鏡，該透鏡的后面設置CCD。

在使用時，從光源發出光線通過透鏡到達光纖近端端面，從而通過光纖的纖芯傳輸到光纖的遠端。光線再經過透鏡，投射到CCD上。在CCD上形成兩個同心的圓，里面的圓斑為纖芯傳輸的光纖，外面的圓為最外層的涂覆層的輪廓線。這樣，通過測量CCD的成像尺寸就可以測量光纖包層直徑、光纖涂覆層直徑、光纖纖芯直徑及相關參數。

測量包層的外圓直徑時，需要將光纖外層的涂覆層剝除。剝除涂覆層的光纖稱為裸光纖。將裸光纖的近端和遠端分別設置在調節架上，按上述操作方法在CCD上可以得到裸光纖端面的像和經過光源照亮的光纖纖芯的像。從而可以測得包層的外圓直徑。

該測試方法雖然能夠測量光纖各層直徑的尺寸，但測試需要在兩個機構上進行測試，或在改變透鏡倍數的情況下在一個機構上進行測試。現有的測量裝置不能一次測試光纖的全部幾何尺寸，對光纖注入端無法監視和精確控制注入光的能量。測試涂覆層時，由于光學系統的變化對校準產生一定的難度。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種能在一個裝置上進行雙向定位和同步完成裸光纖和帶涂覆層光纖幾何參數測試的測試方法。

為解決上述技術問題，本發明光纖端面雙向定位和同步測試的測試方法，包括以下步驟：

第一，將近端裸光纖端面固定在近端調節架上，遠端涂覆層端面固定在遠端調節架上；

第二，正對所述光纖的近端設置近端反射鏡和近端光源，所述近端反射鏡可升降，正對所述光纖的遠端設置遠端反射鏡和遠端光源，所述遠端反射鏡可升降并可旋轉；

第三，所述近端反射鏡和所述遠端反射鏡之間設置可旋轉的中間反射鏡，所述中間反射鏡的后面設置CCD；

第四，調節所述近端調節架和所述遠端調節架的位置，使所述近端調節架與所述近端光源在一條直線上，使所述遠端調節架與所述遠端光源在一條直線上；

第五，降下所述近端反射鏡，使所述近端反射鏡不阻擋所述近端光源至所述光纖的近端的光，調節所述遠端反射鏡和所述中間反射鏡的角度，使所述光纖的遠端成像在所述CCD上；

第六，升起所述近端反射鏡，降下所述遠端反射鏡，使所述遠端反射鏡不阻擋所述遠端光源至所述光纖的遠端的光，調節所述近端反射鏡和所述中間反射鏡的角度，使所述光纖的近端成像在所述CCD上。

優選地，在第五步中，調節所述遠端調節架的位置，使所述光纖的遠端在所述CCD上的成像清晰。

優選地，在第六步中，調節所述近端調節架的位置，使所述光纖的近端在所述CCD上的成像清晰。

優選地，所述遠端調節架與所述遠端反射鏡之間設置遠端透鏡。

優選地，所述近端調節架與所述近端反射鏡之間設置近端透鏡。

優選地，所述遠端反射鏡與所述遠端光源之間設置第二遠端透鏡。

優選地，所述近端反射鏡與所述近端光源之間設置第二近端透鏡

優選地，所述第四步中，通過觀察所述CCD上的成像來調整所述遠端調節架和所述近端調節架的位置。

優選地，所述第四步之后，在所述遠端調節架上設置標準光纖，然后測量所述CCD上成像的標準尺寸，從而得到待測光纖的尺寸與所述CCD所述待測光纖成像的尺寸的比例關系。

本發明通過上述步驟能夠對裸光纖的端面和涂覆層的端面同步進行測試。同時，本發明還可實現對光線注入端的光纖位置的精確定位，提高與纖芯有關參數的準確性。通過觀察注入端光纖的纖芯在CCD上的成像，可調整注入端的精確位置。

本發明還可分別對裸光纖端面和涂覆層端面的成像光路進行標定校準，提高測試精度。在對注入端光纖進行精確定位后，先在調節架上設置標準光纖，測量CCD上成像的標準尺寸，標準光纖的尺寸參數已知，從而可得到待測光纖的尺寸與CCD成像的尺寸的比例關系。

附圖說明

圖1是現有的測量光纖的纖芯、包層和涂覆層尺寸的裝置。

圖2是本發明所使用的裝置的結構圖。

圖3是近端反射鏡上升的光路圖。

圖4是遠端反射鏡上升的光路圖。

附圖標記如下：

1、光纖?????????42、遠端透鏡