[發(fā)明專利]一種垂直結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010209367.6 | 申請(qǐng)日: | 2010-06-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102299226A | 公開(公告)日: | 2011-12-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張楠;朱廣敏;葉青;潘堯波;齊勝利;郝茂盛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海藍(lán)光科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/36 | 分類號(hào): | H01L33/36 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所 31219 | 代理人: | 李儀萍 |
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 垂直 結(jié)構(gòu) 發(fā)光二極管 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管的結(jié)構(gòu)及其制造方法,尤其是指一種垂直結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管及其制造方法。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管具有體積小、效率高和壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),在交通指示、戶外全色顯示等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。尤其是利用大功率發(fā)光二極管可能實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體固態(tài)照明,引起人類照明史的革命,從而逐漸成為目前電子學(xué)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。LED的光提取效率是指出射到器件外可供利用的光子與外延片的有源區(qū)由電子空穴復(fù)合所產(chǎn)生的光子的比例。在傳統(tǒng)LED器件中,由于襯底吸收、電極阻擋、出光面的全反射等因素的存在,光提取效率通常不到10%,絕大部分光子被限制在器件內(nèi)部無(wú)法出射而轉(zhuǎn)變成熱,成為影響器件可靠性的不良因素。為提高光提取效率,使得器件體內(nèi)產(chǎn)生的光子更多地發(fā)射到體外,并改善器件內(nèi)部熱特性,經(jīng)過(guò)多年的研究和實(shí)踐,人們已經(jīng)提出了多種光提取效率提高的方法,比如電流分布與電流擴(kuò)展結(jié)構(gòu)、芯片形狀幾何化結(jié)構(gòu)、表面微結(jié)構(gòu)等。
通常LED的芯片結(jié)構(gòu)為在藍(lán)寶石等襯底上依次外延了N型半導(dǎo)體層、有源層、P型半導(dǎo)體層的構(gòu)造。另外,在P型半導(dǎo)體層上配置有P電極,在N型半導(dǎo)體層上配置有N電極。最終的芯片可以是正裝結(jié)構(gòu)、倒裝結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)等。其中,傳統(tǒng)的垂直結(jié)構(gòu)如圖1所示,垂直結(jié)構(gòu)LED的兩個(gè)電極分別在有源層的上下兩側(cè),電流幾乎全部垂直流過(guò)氮化鎵基外延層,沒(méi)有橫向流動(dòng)的電流。因此,電阻降低,沒(méi)有電流擁塞,電流分布均勻,充分利用發(fā)光層的材料,電流產(chǎn)生的熱量減小,電壓降低,抗靜電能力提高。其傳統(tǒng)的制造工藝包括下述步驟:在藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)一中間媒介層和氮化鎵基外延層(依次包括N型半導(dǎo)體層、有源層、P型半導(dǎo)體層,等),在氮化鎵基P型半導(dǎo)體層上鍵合一導(dǎo)電支持襯底,該導(dǎo)電支持襯底的另一面層疊P電極。利用激光照射在中間媒介層上,氮化鎵分解,藍(lán)寶石襯底和氮化鎵基外延層分離,即激光剝離,然后制造N電極完成芯片結(jié)構(gòu)的制作。然而,剝離藍(lán)寶石襯底的工藝往往比較復(fù)雜,不利于生產(chǎn)上良品率的提高。
如何突破現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)一步提高出光率、提高芯片良品率仍然是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的技術(shù)課題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種新型的垂直結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管及其制造方法。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種垂直結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管,包括:N電極、位于所述N電極之上的半導(dǎo)體厚膜、位于所述半導(dǎo)體厚膜之上的半導(dǎo)體外延層、位于所述半導(dǎo)體外延層之上的P電極;
所述半導(dǎo)體外延層至少包括N型半導(dǎo)體層、位于所述N型半導(dǎo)體層之上的有源層,以及位于所述有源層之上的P型半導(dǎo)體層;
所述半導(dǎo)體厚膜是由生長(zhǎng)襯底外延生長(zhǎng)而得的GaN基半導(dǎo)體材料,其厚度為70-150μm。
其中,在所述P電極與所述半導(dǎo)體外延層之間還設(shè)有電流擴(kuò)散層。在所述N電極與所述半導(dǎo)體厚膜之間設(shè)有N型反射層。
一種上述垂直結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管的制造方法,包括如下步驟:
步驟一、在生長(zhǎng)襯底上生長(zhǎng)一層半導(dǎo)體厚膜,再在所述半導(dǎo)體厚膜上生長(zhǎng)半導(dǎo)體外延層,該半導(dǎo)體外延層至少包括N型半導(dǎo)體層、位于所述N型半導(dǎo)體層之上的有源層,以及位于所述有源層之上的P型半導(dǎo)體層;
步驟二、在所述P型半導(dǎo)體層之上制作P電極;
步驟三、利用臨時(shí)鍵合技術(shù)在所述P電極上鍵合臨時(shí)襯底;
步驟四、研磨去掉生長(zhǎng)襯底直至露出所述半導(dǎo)體厚膜;
步驟五、在露出的所述半導(dǎo)體厚膜表面制作N電極;
步驟六、利用解鍵合技術(shù)去除P電極上的臨時(shí)襯底。
其中,所述半導(dǎo)體厚膜的厚度為70-150μm,材料可以是GaN。所述臨時(shí)襯底具有耐高溫,耐酸堿腐蝕的特性,優(yōu)先選用襯底為Si襯底、陶瓷襯底或玻璃襯底等。
步驟一中,利用金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積、分子束外延或等離子體化學(xué)氣相沉積法生長(zhǎng)所述半導(dǎo)體厚膜。在步驟二中,可先在P型GaN層之上制備電流擴(kuò)散層,再制作P電極。在步驟五中,可先在露出的半導(dǎo)體厚膜表面制備N型反射層,再制作N電極,使P型半導(dǎo)體層為出光面。解鍵合后,還需要清洗鍵合面處的殘留贓物。
作為本發(fā)明的優(yōu)選方案,可以在步驟一生長(zhǎng)半導(dǎo)體厚膜之前,先對(duì)生長(zhǎng)襯底進(jìn)行劃片,將其劃分為多個(gè)單元;或者在步驟二制作P電極之前先進(jìn)行劃片,劃至生長(zhǎng)襯底,將半導(dǎo)體外延層及半導(dǎo)體厚膜劃分成獨(dú)立的單元。
本發(fā)明的有益效果在于:
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