[發(fā)明專利]示波器探頭校驗裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010208825.4
• 申請日: 2010-06-24
• 公開（公告）號: CN102298130A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李暉
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種校驗裝置，特別涉及一種示波器探頭校驗裝置。

背景技術(shù)

由于不同接口的測試需要，越來越多的各種不同類型的示波器探頭，例如單端探頭和差分探頭，與示波器進(jìn)行連接以進(jìn)行不同的測試；而為了保證測試精確，需要對示波器探頭所輸出的信號的幅值和時序進(jìn)行校驗。

幅值校驗是為了使示波器探頭在采集信號后，信號幅值不會發(fā)生衰減；具體的方法是示波器探頭接收示波器輸出的一固定幅值的信號，然后該信號經(jīng)過示波器探頭后回傳至示波器，所述示波器比較輸出與接收的信號的幅值。時序校驗是為了使不同通道的示波器探頭在采集信號時，起始時序一致；具體的方法是使多種不同的示波器探頭接收示波器輸出的同一信號，然后該信號經(jīng)過多個示波器探頭后分別回傳至示波器，所述示波器比較接收的多個信號的時序。

由于每類示波器探頭都包括單端探頭和差分探頭，而在對差分探頭進(jìn)行校驗時，差分探頭需要接入一正向信號和一反向信號，使得差分探頭的輸出信號的幅值是示波器輸出信號的兩倍，導(dǎo)致差分探頭在進(jìn)行幅值校驗或與單端探頭一起進(jìn)行時序校驗時不能直觀判斷差分探頭是否存在信號衰減。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種能同時對單端探頭和差分探頭進(jìn)行準(zhǔn)確校驗的示波器探頭校驗裝置。

一種示波器探頭校驗裝置，其用于對單端探頭和差分探頭進(jìn)行幅值和時序校驗；所述示波器探頭校驗裝置包括一示波器、一主分支模塊及至少一組子分支模塊；所述示波器包括一輸出端及多個輸入端；所述主分支模塊包括一與示波器的輸出端相連接的輸入端和至少兩個輸出端；所述子分支模塊包括一第一子分支模塊、一第二子分支模塊及一電阻；所述第一子分支模塊包括一與主分支模塊的輸出端相連接的輸入端和至少一組輸出端；所述第二子分支模塊包括一與主分支模塊的輸出端相連接的輸入端和至少一組輸出端；所述電阻的一端連接于第二子分支模塊與主分支模塊之間，另一端接地；所述單端探頭連接于第一子分支模塊的輸出端與示波器的輸入端之間，所述差分探頭連接于第二子分支模塊的輸出端與示波器的輸入端之間。

本發(fā)明提供的示波器探頭校驗裝置通過在第二子分支模塊與主分支模塊之間連接一電阻，使得在對示波器探頭進(jìn)行校驗時，示波器探頭的理論輸出信號的幅值與示波器輸出信號相同，從而實現(xiàn)對流經(jīng)示波器探頭的校正信號是否存在信號衰減的直觀判斷。

附圖說明

圖1是示波器校正原理圖。

圖2是本發(fā)明實施方式提供的示波器探頭校驗裝置的系統(tǒng)架構(gòu)圖。

主要元件符號說明

示波器探頭校驗裝置????????100

示波器探頭????????????????110

單端探頭??????????????????110a

差分探頭??????????????????110b

示波器????????????????????10

信號發(fā)生源????????????????11

內(nèi)阻??????????????????????12

顯示模塊??????????????????13

主分支模塊????????????????20

子分支模塊????????????????30

第一子分支模塊????????????31

第二子分支模塊????????????32

電阻??????????????????????33

反向器????????????????????T1

電源??????????????????????Vcc

具體實施方式

以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。

如圖1及圖2所示，為本發(fā)明實施方式提供的一種示波器探頭校驗裝置100，其用于對示波器探頭110進(jìn)行幅值和時序校驗，所述示波器探頭110分為單端探頭110a和差分探頭110b；所述示波器探頭校驗裝置100包括一示波器10、一主分支模塊20、至少一組子分支模塊30及一電源Vcc。