[發(fā)明專利]對面加工機床主軸標定的方法及檢測裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010207117.9 | 申請日: | 2010-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN102294621A | 公開(公告)日: | 2011-12-28 |
| 發(fā)明(設計)人: | 程龍;劉俊奇;肖灑 | 申請(專利權)人: | 上海三一精機有限公司 |
| 主分類號: | B23Q17/00 | 分類號: | B23Q17/00 |
| 代理公司: | 上海開祺知識產權代理有限公司 31114 | 代理人: | 竺明 |
| 地址: | 201413 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 對面 加工 機床 主軸 標定 方法 檢測 裝置 | ||
1.對面加工機床主軸標定的方法,將檢測探頭和檢棒分別安裝在對面加工機床的兩主軸上;其特征是,檢棒中心開有圓內孔;移動檢測探頭和檢棒,分別從工件的通孔兩側進入工件通孔,并定位到工件的通孔內;然后將檢測探頭移動到檢棒的圓內孔內,使檢測探頭在檢棒圓內孔的內圓邊上接觸一點,實現(xiàn)第一點的檢測;然后再直接在檢棒圓內孔的內圓邊上移動檢測探頭,進行第二點的檢測;同理,完成第三點的檢測;通過內圓邊上的三點檢測確定檢棒的中心點,得到一組檢棒中心點的坐標數(shù)據(jù),將上述檢棒中心點的坐標數(shù)據(jù)輸入到安裝檢測探頭的加工機床的控制器內,將該加工機床定位到此坐標點,從而實現(xiàn)兩主軸中心的標定;檢測完后不需要在移動主軸,直接進入加工階段。
2.如權利要求1所述的對面加工機床主軸標定的方法,其特征是,整個檢測過程中檢測探頭移動的最大距離是檢棒圓內孔直徑的1.5倍。
3.如權利要求1所述的對面加工機床主軸標定的方法,其特征是,所述的檢測探頭為激光檢測探頭或接觸式探頭。
4.對面加工機床主軸標定的檢測裝置,包括分別安裝在對面加工機床的兩主軸上的檢測探頭、檢棒;主軸分別安裝在對面加工機床各自的立柱上;其特征是,所述的檢棒中心部開有圓內孔。
5.如權利要求4所述的對面加工機床主軸標定的檢測裝置,其特征是,所述的檢測探頭為激光檢測探頭或接觸式探頭。
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