[發明專利]用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置

無效

• 申請號: 201010206509.3
• 申請日: 2010-06-12
• 公開（公告）號: CN101858785A
• 公開（公告）日: 2010-10-13
• 發明（設計）人: 朱大洲;陳立平;王成;畢昆;黃文江
• 申請（專利權）人: 北京農業智能裝備技術研究中心
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01J3/28;G01N21/25
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，包括：

黑盒，用于保護其內器件并構造暗室環境；

光窗，位于所述黑盒的前端并將所述黑盒密封；

線性漸變濾光片，封裝在所述黑盒內并設置于所述光窗之后，用于過濾其帶寬范圍之外的光；

檢測器模塊，封裝在所述黑盒內并設置于所述濾光片之后，用于將進入其內的經過過濾的光轉換為電信號。

2.如權利要求1所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，在所述濾光片和所述檢測器模塊之間還設置有光纖面板，用于將從所述濾光片輸出的光耦合入所述檢測器模塊。

3.如權利要求2所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述光纖面板的一個端面與所述濾光片的有效濾光區域光學膠合。

4.如權利要求3所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述有效濾光區域的形狀與所述光纖面板與其膠合的端面形狀相同。

5.如權利要求3或4所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述光纖面板的另一個端面與所述檢測器模塊的窗口光學膠合。

6.如權利要求5所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述光纖面板的另一個端面與所述檢測器模塊的窗口的形狀相同。

7.如權利要求6所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述濾光片的帶寬范圍在所述檢測器模塊的響應范圍之內。

8.如權利要求1中所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述檢測器模塊包括檢測器。

9.如權利要求8所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，所述檢測器為CCD陣列探測器、PDA光電二極管陣列、CMOS線性成像探測器陣列或InGaAs線性成像探測器陣列中的任意一種。

10.如權利要求1所述的用于提高微型光譜儀光譜質量的裝置，其特征在于，其設置于所述光譜儀中的光柵和電信號處理模塊之間。