[發明專利]一種錯誤檢查與糾正能力的測試方法及裝置有效
| 申請號: | 201010205606.0 | 申請日: | 2010-06-11 |
| 公開(公告)號: | CN102279776A | 公開(公告)日: | 2011-12-14 |
| 發明(設計)人: | 凌明 | 申請(專利權)人: | 無錫中星微電子有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 214028 江蘇省無錫市新區長江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 錯誤 檢查 糾正 能力 測試 方法 裝置 | ||
1.一種ECC算法糾正能力的測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
根據ECC算法和正確的ECC數據對存在錯誤的測試數據進行糾錯,獲得糾錯后的數據;所述正確的ECC數據是依據正確數據獲得的;所述存在錯誤的測試數據是對正確數據制造錯誤后獲得的;
將糾錯后的數據與正確數據進行比對,并根據比對結果獲知ECC算法的糾錯能力。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,存在錯誤的測試數據包括:對正確的原始數據制造錯誤后獲得的存在錯誤的原始數據和/或對正確的ECC數據制造錯誤后獲得的存在錯誤的ECC數據。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在根據ECC算法和正確的ECC數據對存在錯誤的測試數據進行糾錯之前,還包括步驟:將第一ECC數據與第二ECC數據進行比較,其中第一ECC數據為正確數據對應的ECC數據,第二ECC數據為存在錯誤的測試數據對應的ECC數據;當第一ECC數據與第二ECC數據不同時,對第一ECC數據和第二ECC數據進行解碼,獲得解碼后的正確數據和解碼后的存在錯誤的測試數據,并將解碼后的正確數據和解碼后的存在錯誤的測試數據進行比較;
根據ECC算法和正確的ECC數據對存在錯誤的測試數據進行糾錯的步驟包括:當有比特位不相同時,根據ECC算法和正確的ECC數據對存在錯誤的測試數據中的該比特位進行糾錯。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,ECC數據是通過軟件方式獲得的,或者是通過硬件方式獲得的。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,當ECC數據是通過硬件方式獲得時,在獲得ECC數據之前,還包括步驟:
將數據寫入存儲器;
通過硬件電路從存儲器中獲得數據,及根據ECC算法和獲得的數據進行計算;
從硬件電路中獲得ECC數據。
6.如權利要求1所述的方法,其特征在于,將糾錯后的數據與正確數據進行比對的步驟包括:
針對制造錯誤時記錄的存在錯誤的比特位,將糾錯后的數據與正確數據進行比對;或者
將糾錯后的數據與正確數據按照比特位逐一進行比對。
7.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在根據比對結果獲知ECC算法的糾錯能力之前,還包括步驟:
當糾錯后的數據中第一比特位與正確數據中第二比特位的值一致時,確定第一比特位的值已被糾正正確;其中,第一比特位為制造過錯誤的比特位,第二比特位為與第一比特位相應位置的比特位;
當糾錯后的數據中第一比特位與正確數據中第二比特位的值不一致時,確定第一比特位的值未被糾正;
當糾錯后的數據中正確比特位與正確數據中相應位置的比特位的值不一致時,確定該本來正確的比特位的值被糾正成錯誤的值。
8.如權利要求7所述的方法,其特征在于,根據比對結果獲知ECC算法的糾錯能力的步驟包括:
根據第一比特位中已被糾正正確的比特位的數量與正確數據的比特數的比值獲知ECC算法的糾錯能力;和/或
根據第一比特位中未被糾正的比特位的數量與正確數據的比特數的比值獲知ECC算法的糾錯能力;和/或
根據本來正確且被糾正成錯誤的比特位的數量與正確數據的比特數的比值獲知ECC算法的糾錯能力;和/或
根據第一比特位中已被糾正正確的比特位的數量和本來正確且被糾正成錯誤的比特位的數量之和,與正確數據的比特數的比值,獲知ECC算法的糾錯能力。
9.一種ECC算法糾正能力的測試裝置,其特征在于,包括:
ECC算法模塊,用于根據ECC算法和正確的ECC數據對存在錯誤的測試數據進行糾錯;所述正確的ECC數據是依據正確數據獲得的;所述存在錯誤的測試數據是對正確數據制造錯誤后獲得的;
校驗模塊,用于將糾錯后的數據與正確數據進行比對,并根據比對結果獲知ECC算法的糾錯能力。
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