[發明專利]一種顯示面板及其圖像矯正方法

無效

• 申請號: 201010205124.5
• 申請日: 2010-06-21
• 公開（公告）號: CN101937627A
• 公開（公告）日: 2011-01-05
• 發明（設計）人: 應駿
• 申請（專利權）人: 應駿
• 主分類號: G09F9/00
• 分類號: G09F9/00;G02B27/00;G02B5/02;G02B3/08;G02B5/04;G09G5/00
• 代理公司: 杭州浙科專利事務所 33213
• 代理人: 吳秉中

1.一種顯示面板，包括導光層，其特征在于所述的導光層上表面配合設置由單透光材料構成的散射層(1)，導光層下表面配合設置聚光層(4)，所述的導光層包括四棱臺或倒四棱臺結構的中空或實心的透光板(2)，透光板(2)下表面配合設置底透光板(3)。

2.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的散射層(1)上表面平鋪設置由光學材料制得的微圓球顆粒(1a)。

3.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的散射層(1)上表面平鋪設置由光學材料制得的微圓球顆粒(1a)，微圓球顆粒(1a)之間填充設置透光率小于50％的光學材料。

4.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的散射層(1)的下表面或上表面由光學材料制得的微齒輪(1b)陣列組構成。

5.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的散射層(1)上表面由光學材料制得的上凸或下凹的微柱狀體(1c)陣列構成。

6.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的聚光層(4)的下表面或上表面由一個菲涅耳透鏡(4a)或由微型的菲涅耳透鏡(4a)陣列組構成。

7.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的聚光層(4)中設置微中空透光柱(4b)陣列組。

8.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的聚光層(4)的上表面或下表面由光學材料制得的微棱鏡(4c)陣列組構成，所述的微棱鏡(4c)橫截面為不規則、圓形或橢圓形的凸起結構，凸起結構中間為下凹或扁平結構。

9.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的透光板(2)上表面配合設置面透光板(5)，透光板(2)的四個側面上分別配合設置側透光板(6)，透光板(2)與四個側透光板(6)構成長方體或正方體結構，所述的面透光板(5)、透光板(2)與側透光板(6)為一體式結構或分體連接結構。

10.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的透光板(2)上表面對稱配合設置倒四棱臺結構的上透光板(2a)，上透光板(2a)與透光板(2)之間配合設置側透光板(6)，上透光板(2a)、透光板(2)與側透光板(6)構成長方體或正方體結構，上透光板(2a)上表面配合設置面透光板(5)，所述的面透光板(5)、上透光板(2a)、透光板(2)與側透光板(6)為一體式結構或分體連接結構。

11.如權利要求1所述的一種顯示面板，其特征在于所述的聚光層(4)配合連接顯示單元，顯示單元上配合設置接入圖像輸入數據的圖像矯正器，圖像矯正器與顯示單元中的驅動電路板連接。

12.一種顯示面板的圖像矯正方法，其特征在于包括以下步驟：

1)利用常規測試軟件和光度測量設備進行參數測量：亮度修正參數Nh，色差修正參數Nc，顯示像素點大小修正參數Nl，顯示像素點距修正參數Ni；

2)將步驟1)得到的參數輸入至圖像矯正器，圖像矯正器利用預先設置的計算公式進行矯正運算，達到相應的矯正系數，圖像矯正器通過矯正系數對顯示單元的輸入源圖像分別進行矯正，然后再由與圖像矯正器連接的驅動電路板上的驅動IC顯示矯正后的圖像，各矯正系數的計算公式如下：

亮度矯正：

H=h11h12······h1mh21h22······h2m············hn1hn2······hnm×Δh1Δh2···Δhn=h]]>

其中H為原始圖像亮度矩陣，h_nm為n行m列像素點的亮度值，h_nm由常規儀器測量所得，h為矯正后的圖像亮度矩陣，Δhn為亮度矯正矩陣，Δhn＝Nh+δn，δn為第n行所在位置光系透過導光層后的光能量損失系數，δn由常規儀器測量所得；

色差矯正：

C=c11c12······c1mc21c22······c2m············cn1cn2······cnm×Δc1Δc2···Δcn=c]]>

其中C為原始圖像像素點色溫系數矩陣，c_nm為n行m列像素點的色溫系數值，c_nm由常規儀器測量所得，c為矯正后圖像像素點色溫系數矩陣，Δcn為色差矯正矩陣，Δcn＝Nc+ε*θn，θn為n行像素點的色差基準系數，ε為導光層材料的透光度、色散系數、色彩純度、表面光潔度加權值，θn、ε由常規儀器測量所得；

顯示像素點大小矯正：

L=l11l12······l1ml21l22······l2m············ln1ln2······lnm×Δl1Δl2···Δln=l]]>

其中L為原始圖像顯示像素點大小，l_nm為n行m列像素點的大小值，l_nm由常規儀器測量所得，l為矯正后圖像像素點大小矩陣，Δln為像素點大小矯正矩陣，Δln＝Nl+τsinγn，τ為導光層材料的光學系數，γn為點n的偏移角度，τ和γn由常規儀器測量所得；

顯示像素點距矯正：

I=i11i12······i1mi21i22······i2m············in1in2······inm×Δi1Δi2···Δin=i.]]>

其中I為原始圖像顯示像素點距矩陣，i_nm為n行m列像素點的與相鄰點的距離，i_nm由常規儀器測量所得，i為矯正后圖像像素點距矩陣，Δin為像素點距大小矯正矩陣，Δin＝Ni+ρn*τsinγn，τ為導光層光學系數，γn為點n的偏移角度，ρn為n點所在的放大系數，τ、γn和ρn由常規儀器測量所得。