[發明專利]一種基于數字圖像技術的平面面積測量方法

無效

• 申請號: 201010204050.3
• 申請日: 2010-06-18
• 公開（公告）號: CN101865679A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發明（設計）人: 柯海豐
• 申請（專利權）人: 杭州雙樹科技有限公司
• 主分類號: G01B11/28
• 分類號: G01B11/28;G06T5/00
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 陳昱彤

1.一種基于數字圖像技術的平面面積測量方法，其特征是包括如下步驟：

(1)對測量系統的攝像裝置進行參數標定，得到所述攝像裝置的內部參數，所述內部參數包括成像參數和/或畸變參數；

(2)利用攝像裝置對背景進行成像，得到背景的原始圖像，利用步驟(1)所得到的攝像裝置的內部參數相應地對所述背景的原始圖像進行成像矯正和/或畸變矯正，得到背景的矯正圖像；再對背景的矯正圖像進行灰度化處理，獲得背景的灰度圖像；

(3)將面積已知的平面基準物置于步驟(2)所述的背景中，利用所述攝像裝置對所述平面基準物進行成像，得到平面基準物的原始前景圖像；利用步驟(1)所得到的所述攝像裝置的內部參數對所述平面基準物的原始前景圖像進行成像矯正和/或畸變矯正，得到平面基準物的矯正前景圖像；再對平面基準物的矯正前景圖像進行灰度化處理，獲得平面基準物的灰度前景圖像；對平面基準物的灰度前景圖像和背景的灰度圖像進行差分運算，得到去除背景后的平面基準物的灰度圖像；對去除背景后的平面基準物的灰度圖像進行二值化處理，得到平面基準物的二值圖像；再獲取所述平面基準物的二值圖像的非零像素數，然后利用以下公式(1)得到所述測量系統的像素當量，

ε＝S/M?????????????????????????(1)

公式(1)中，S為平面基準物的面積，M為平面基準物的非零像素數，ε為測量系統的像素當量；

(4)將被測量物置于步驟(2)所述的背景中，利用所述攝像裝置對所述被測量物進行成像，得到被測量物的原始前景圖像；利用步驟(1)所得到的所述攝像裝置的內部參數對所述被測量物的原始前景圖像進行成像矯正和/或畸變矯正，得到被測量物的矯正前景圖像；再對被測量物的矯正前景圖像進行灰度化處理，獲得被測量物的灰度前景圖像；對被測量物的灰度前景圖像和背景的灰度圖像進行差分運算，得到去除背景后的被測量物的灰度圖像；對去除背景后的被測量物的灰度圖像進行二值化處理，得到被測量物的二值圖像；再獲取所述被測量物的二值圖像的非零像素數；

(5)根據所述測量系統的像素當量和被測量物的二值圖像的非零像素數，利用公式(2)得到被測量物的面積

D＝ε×N???????????????(2)

式(2)中，D為被測量物的面積，N為被測量物的非零像素數，ε為測量系統的像素當量。

2.根據權利要求1所述的一種基于數字圖像技術的平面面積測量方法，其特征是：所述成像參數為水平方向焦距、垂直方向焦距、成像芯片相對光軸水平偏移量和成像芯片相對光軸垂直偏移量，所述畸變參數為徑向畸變參數和/或切向畸變參數。