[發明專利]功能接口與調試接口復用的SOC集成電路無效
| 申請號: | 201010204009.6 | 申請日: | 2010-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN102289419A | 公開(公告)日: | 2011-12-21 |
| 發明(設計)人: | 邢濤;王大志 | 申請(專利權)人: | 珠海全志科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F13/38 | 分類號: | G06F13/38;G06F1/16 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 李雙皓 |
| 地址: | 519000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 功能 接口 調試 soc 集成電路 | ||
技術領域
本發明涉及集成電路領域,具體涉及一種SOC集成電路。
背景技術
SOC(System-On-a-Chip,片上系統)是指目前的大規模集成電路,在一顆集成電路芯片里實現各種功能,通常一顆芯片能滿足系統所有需求,所以被稱作片上系統。隨著微電子技術的發展,SOC的應用已經非常廣泛,而且以后規模能夠更大,功能能夠更強。
JTAG(Joint?Test?Action?Group,聯合測試行動組織)接口是目前SOC集成電路普遍采用的一種調試接口,通過JTAG接口,計算機上的終端工具不但能訪問SOC集成電路內部寄存器和存儲單元等等,還能把代碼下載到SOC集成電路的存儲單元,從而控制代碼的運行過程并觀察該代碼的運行結果。這使得SOC集成電路的調試實現了可控制和可觀察,為查找芯片的問題帶來很大的便利。
現在SOC集成電路采用的調試接口設計,都設置了專門的調試接口,獨占多個芯片引腳,造成了芯片面積增加,制造成本升高。調試的方法主要是在硬件設計時,專門在硬件電路上留下測試點,即通過Test?Point的形式,留出專門的JTAG調試接口和UART調試接口。如圖1所示,SOC?100中包括:用于輸出功能接口信號、控制外部功能接口并與外部模塊進行通信的功能接口控制器101、和/或用于與外部調試工具或計算機進行通信的其他調試接口控制器102、用于輸出調試接口信號、接收計算機調試工具或開發工具的指令對SOC集成電路進行控制并采集SOC集成電路內部運行狀態的JTAG調試接口控制器103,但它們的功能接口都是獨立的,分別對應功能接口110、112和113。這會導致其他調試接口和JTAG調試接口占用專門的SOC?100引腳,而這些引腳只在調試過程中使用,在生產以及使用過程中都起不到任何的作用,嚴重浪費SOC?100珍貴的引腳資源。同時在系統設計的過程中,對應其他調試接口控制器的功能接口112和對應JTAG調試接口控制器的功能接口113只會在機器內部以測試點的方式出現,需要調試時就要拆開機器,利用引測試信號線的方法將測試點引出來進行調試。
這種方法的弊端在這幾個方面:1)耗時很長;2)引測試信號線會給調試帶來不確定因素,進而增加調試的難度;3)為了拆機和引測試信號線,需要關閉機器電源,因此對于一些難以重現的現象,無法針對這些低概率異常現象進行調試;4)SOC集成電路需要專門的調試引腳,增加SOC集成電路引腳的消耗,不利于SOC集成電路的設計。
發明內容
本發明的目的在于,提出一種SOC集成電路,不采用專門的調試引腳,對該SOC集成電路進行調試時不需要拆機和引測試信號線,而且能夠減少SOC集成電路引腳消耗和芯片的面積。
本發明提出的SOC集成電路,包括功能接口控制器、JTAG調試接口控制器、用于選擇功能接口信號或調試接口信號并將選擇的信號傳輸至外部接口的信號復用單元、用于根據是否接收到調試模式觸發指令的不同情況控制所述信號復用單元進行信號復用的復用控制寄存器、用于與所述SOC集成電路之外的調試工具或其他設備進行連接的外部接口、以及若干引腳;
所述復用控制寄存器在未接收到調試模式觸發指令時,輸出正常應用控制指令至所述信號復用單元;所述信號復用單元根據所述正常應用控制指令選擇所述功能接口控制器輸出的功能接口信號,并將該功能接口信號通過若干引腳傳輸至所述外部接口;所述其他設備通過所述外部接口接收所述功能接口信號進行功能應用;
所述復用控制寄存器在接收到調試模式觸發指令時,輸出調試控制指令至所述信號復用單元;所述信號復用單元根據所述調試控制指令選擇所述JTAG調試接口控制器輸出的調試接口信號,并將該調試接口信號通過若干引腳傳輸至所述外部接口;所述調試工具通過所述外部接口接收所述調試接口信號或發送調試指令以進行調試。
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