[發明專利]X射線檢查裝置有效
| 申請號： | 201010200544.4 | 申請日： | 2010-06-08 |
| 公開（公告）號： | CN101907580A | 公開（公告）日： | 2010-12-08 |
| 發明（設計）人： | 島田征浩 | 申請（專利權）人： | 株式會社石田 |
| 主分類號： | G01N23/02 | 分類號： | G01N23/02;G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322 | 代理人： | 龍淳;劉春成 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 檢查 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種X射線檢查裝置，包括：
X射線檢測單元，其檢測通過物品的X射線的級別；
判斷單元，其基于所述X射線檢測單元檢測到的X射線的檢測級別來判斷所述物品的狀態，所述X射線檢測單元對于每個判斷基準使用包括第一閾值和第二閾值的多個閾值；和
輸出單元，其輸出由所述判斷單元做出的判斷的結果。
2.如權利要求1所述的X射線檢查裝置，其特征在于，
所述判斷單元根據用于判斷物品是否有缺陷的多個判斷基準來判斷所述物品的狀態，且對于每個判斷基準分別設定多個閾值。
3.如權利要求1或2所述的X射線檢查裝置，其特征在于，
所述判斷單元將所述第二閾值設定為與所述第一閾值成比例。
4.如權利要求1或2所述的X射線檢查裝置，其特征在于，
所述判斷單元分別單獨地設定所述第一閾值和所述第二閾值。
5.如權利要求1～4中任一項所述的X射線檢查裝置，其特征在于，
所述判斷單元使用所述第一閾值和所述第二閾值來判斷所述物品的不同狀態。
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