[發(fā)明專(zhuān)利]集成電路測(cè)試方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010198896.0
• 申請(qǐng)日: 2010-06-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102279356A
• 公開(kāi)（公告）日: 2011-12-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳明錫
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 旺宏電子股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28;G01R31/30
• 代理公司: 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 梁愛(ài)榮

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是有關(guān)于一種集成電路的測(cè)試，且特別是有關(guān)于一種存儲(chǔ)元件的測(cè)試。

背景技術(shù)

集成電路的制造有關(guān)于由一系列的制造步驟對(duì)一芯片進(jìn)行處理以在芯片上制造出多個(gè)集成電路。一旦芯片制程完成，芯片即被切割成個(gè)別的集成電路，接著這些個(gè)別的集成電路會(huì)再經(jīng)過(guò)不同的焊線接合以及封裝步驟。然而在這些集成電路使用前，希望能夠先測(cè)試這些集成電路的操作。在一些案例中，集成電路可在芯片切割前先作測(cè)試。或者，集成電路可在焊線接合及封裝步驟之后作測(cè)試。一般來(lái)說(shuō)，作這些測(cè)試是為了驗(yàn)證集成電路不同的電性。這些從測(cè)試得到的信息可以輸入到計(jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)將這些測(cè)試結(jié)果與儲(chǔ)存于存儲(chǔ)器中的信息進(jìn)行比較，并且對(duì)于集成電路的可接受度提出判定結(jié)果。

市場(chǎng)上可取得的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic?test?equipment，ATE)是用來(lái)執(zhí)行集成電路自動(dòng)測(cè)試的設(shè)備。舉例來(lái)說(shuō)，一廣為人知的ATE例子為一名稱(chēng)為“Kalos?1”，的集成電路的芯片測(cè)試機(jī)臺(tái)，由Credence?SystemsCorporation販賣(mài)制造。Kalos?1設(shè)計(jì)用來(lái)測(cè)試閃存。Kalos?1包括一個(gè)探針卡，此探針卡包括16個(gè)測(cè)試位置，給每一測(cè)試元件(DUT)使用。

由于集成電路為單獨(dú)測(cè)試，此測(cè)試為一消耗時(shí)間的過(guò)程。故而在測(cè)試過(guò)程的效能改進(jìn)上，已經(jīng)投入相當(dāng)多的努力。盡管如此，在集成電路的測(cè)試效能上仍須要有更進(jìn)一步的改善。

發(fā)明內(nèi)容

本揭露書(shū)是有關(guān)于裝置的測(cè)試方法及裝置。根據(jù)本揭露書(shū)的一方面，提出一種測(cè)試多個(gè)集成電路的方法，此測(cè)試多個(gè)集成電路的方法包括使用一集成電路測(cè)試系統(tǒng)，此集成電路測(cè)試系統(tǒng)包括一電壓供應(yīng)器以及多個(gè)通訊信道。此測(cè)試多個(gè)集成電路的方法還包括使用選擇通訊信道來(lái)當(dāng)作控制通道。第一開(kāi)關(guān)元件連接于電壓供應(yīng)器以及欲作測(cè)試的第一集成電路之間，第二開(kāi)關(guān)元件連接于電壓供應(yīng)器以及欲作測(cè)試的第二集成電路之間。其它欲作測(cè)試的集成電路直至一預(yù)定數(shù)目的集成電路，皆可依此方式使用對(duì)應(yīng)的開(kāi)關(guān)元件作連接。接著，此方法包括使用多個(gè)已被指定為控制通道的通訊信道來(lái)分別地控制此些開(kāi)關(guān)元件。

上述揭露的方法包括使用已知的集成電路設(shè)試系統(tǒng)，例如是Kalos?1測(cè)試系統(tǒng)。

在一些實(shí)施例中，此些開(kāi)關(guān)元件可以包括多個(gè)繼電器或多個(gè)其它的電性可控制開(kāi)關(guān)元件。通過(guò)此些繼電器或其它開(kāi)關(guān)元件可包括各自的控制端，以從各自的控制通道接收控制訊號(hào)。此外，在一些實(shí)施例中，此方法可包括使用電流定位器，使電流定位器位于電壓供應(yīng)器和一或多個(gè)預(yù)作測(cè)試的集成電路之間。

根據(jù)本揭露書(shū)的另一方面，提出一種測(cè)試多個(gè)集成電路的裝置，此測(cè)試集成電路的裝置包括一集成電路測(cè)試系統(tǒng)，此集成電路測(cè)試系統(tǒng)包括電壓供應(yīng)器以及多個(gè)通訊信道。此些通訊信道包括被分別指定為控制通道的通訊信道。此裝置還包括一擴(kuò)展系統(tǒng)。通過(guò)此擴(kuò)展系統(tǒng)包括連接于測(cè)試系統(tǒng)的電壓供應(yīng)器以及欲作測(cè)試的多個(gè)集成電路之間的多個(gè)開(kāi)關(guān)元件。此些被指定為控制通道的通訊信道分別被配置用以控制開(kāi)關(guān)元件。

在一些實(shí)施例中，集成電路測(cè)試系統(tǒng)可包括Kalos?1測(cè)試系統(tǒng)。

在一些實(shí)施例中，此些開(kāi)關(guān)元件可包括多個(gè)繼電器或多個(gè)其它電性可控制開(kāi)關(guān)元件。此些繼電器或其它開(kāi)關(guān)元件可包括各自的控制端，以從各自的控制通道接收控制訊號(hào)。此外，在一些實(shí)施例中，電流定位器可連接于電壓供應(yīng)器以及一或多個(gè)預(yù)作測(cè)試的集成電路之間。

附圖說(shuō)明

圖1繪示一集成電路測(cè)試系統(tǒng)的部分方塊圖。

圖2繪示根據(jù)本揭露書(shū)所揭露的一實(shí)施例的擴(kuò)展系統(tǒng)的方塊圖。

圖3繪示圖2所示的擴(kuò)展系統(tǒng)的另一區(qū)塊圖。

【主要元件符號(hào)說(shuō)明】

1：輸入端

2：輸出端

100：集成電路測(cè)試系統(tǒng)

102：測(cè)試器

104：多任務(wù)器

106：探針卡

200：擴(kuò)展系統(tǒng)

210-217：繼電器

220、221：電流定位器

CC0-CC7：控制通道

CH0-CHn：通訊信道

DPS0-DPS7：分布式電源供應(yīng)點(diǎn)

DUT0-DUT7：測(cè)試元件

P1：控制端點(diǎn)

P2：控制接地端點(diǎn)

S0-S15：測(cè)試點(diǎn)

VCC0：第一電源供應(yīng)器

VCC1：第二電源供應(yīng)器

具體實(shí)施方式