[發明專利]磁共振成像裝置以及磁共振成像方法

有效

• 申請號: 201010198221.6
• 申請日: 2010-06-04
• 公開（公告）號: CN101907692A
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發明（設計）人: 梅田匡朗;副島和幸
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝;東芝醫療系統株式會社
• 主分類號: G01R33/54
• 分類號: G01R33/54;A61B5/055
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 呂林紅

1.一種磁共振成像裝置，其特征在于，具有：

收集部，根據從放大器輸出的補償前的高頻輸出波形，對高頻控制波形進行補償，以從所述放大器輸出用于生成空間非選擇性高頻磁場的期望的高頻輸出波形，并且使用補償后的所述高頻控制波形，收集磁共振信號；以及

生成部，根據所述磁共振信號，生成圖像數據。

2.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，根據為了得到所述補償前的高頻輸出波形而向所述放大器輸入的輸入波形、以及根據所述補償前的高頻輸出波形和所述輸入波形得到的響應函數，對所述高頻控制波形進行補償。

3.如權利要求2所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，具有保存用于修正所述放大器的響應的非線性的影響的系數的保存部，利用所述系數對所述高頻控制波形進行補償。

4.如權利要求3所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部對所述高頻控制波形進行補償，以減少作為矩形波的高頻輸出波形中的過沖分量。

5.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，利用根據向所述放大器輸入的輸入波形、以及對應于所述輸入波形而從所述放大器輸出的輸出波形得到的響應函數，進行多次所述高頻控制波形的補償。

6.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，還根據所述放大器的響應的非線性，對所述高頻控制波形進行補償。

7.如權利要求6所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，具有保存用于修正所述放大器的響應的非線性的影響的系數的保存部，利用所述系數對所述高頻控制波形進行補償。

8.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，通過執行預掃描來取得所述補償前的高頻輸出波形。

9.如權利要求8所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述預掃描是用于測定用于接收所述磁共振信號的接收增益的預掃描。

10.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部對所述高頻控制波形進行補償，以從所述放大器輸出生成VFA法、即可變翻轉角法中的高頻磁場的期望的高頻輸出波形。

11.如權利要求10所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部執行發送翻轉角相互不同的多個再聚焦脈沖的預掃描，測定從所述多個再聚焦脈沖中采樣得到的一部分再聚焦脈沖的發送時的所述放大器的響應的非線性，根據該測定結果對所述高頻控制波形進行補償，以修正所述非線性的影響。

12.如權利要求11所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部對所述高頻控制波形進行補償，以從所述放大器輸出矩形波的高頻輸出波形。

13.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部將針對每個補償前的高頻控制波形的補償前的高頻輸出波形、針對補償前的高頻控制波形的補償量、以及補償后的高頻控制波形中的至少一個作為補償參數保存，通過參照所述補償參數對所述高頻控制波形進行補償。

14.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部對所述高頻控制波形進行補償，以從所述放大器輸出矩形波的高頻輸出波形。

15.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部對所述高頻控制波形進行補償，以減少作為矩形波的高頻輸出波形中的過沖分量。

16.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，通過脈沖序列的控制對所述高頻控制波形進行補償。

17.如權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

所述收集部構成為，通過設置在所述放大器的前級的硬件的控制，對所述高頻控制波形進行補償。

18.一種磁共振成像方法，其特征在于，具有如下步驟：

根據從放大器輸出的補償前的高頻輸出波形，對高頻控制波形進行補償，以從所述放大器輸出用于生成空間非選擇性高頻磁場的期望的高頻輸出波形；

使用補償后的所述高頻控制波形，收集磁共振信號；以及

根據所述磁共振信號，生成圖像數據。