[發明專利]位置偵測的裝置及方法

有效

• 申請號: 201010197782.4
• 申請日: 2010-04-16
• 公開（公告）號: CN102023777A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發明（設計）人: 葉尚泰;陳家銘;何順隆
• 申請（專利權）人: 禾瑞亞科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/045
• 分類號: G06F3/045
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種具手掌忽視的偵測位置的方法，其特征在于包括：

提供復數條導電條相迭構成的復數個相迭區，其中相迭于任一相迭區的一對導電條因電性接觸形成一接觸點時構成一被壓觸相迭區；

判斷每一個相迭區的一接觸阻抗；

在該些相迭區判斷出每一個壓觸；

判斷每一個壓觸的一總接觸阻抗，該總接觸阻抗為相應相同壓觸的所有相迭區的該接觸阻抗的并聯阻抗；

依據每一壓觸的該總接觸阻抗區分為筆的壓觸與手掌的壓觸；

判斷出每一筆的壓觸的一壓觸位置；以及

輸出每一個非手掌的壓觸的該位置。

2.如權利要求1所述的具手掌忽視的偵測位置的方法，其特征在于每一個壓觸的判斷是依據該總接觸阻抗是否小于一門坎限值判斷是否為手掌的壓觸。

3.如權利要求1所述的具手掌忽視的偵測位置的方法，其特征在于該接觸阻抗是依據該對導電條之一與另一在該接觸點的電位與該被壓觸相迭區的位置來判斷，該接觸阻抗的判斷包括：

依據該被壓觸相迭區的位置判斷出一第一維度阻抗與一第二維度阻抗；

在該對導電條之一與另一分別被提供一高電位與一低電位時感測該接觸點在該對導電條上之一與另一之一第一接觸電位與一第二接觸電位；以及

判斷出該接觸阻抗，其中該接觸阻抗為(R1+R2)/(((VH-VL)/(P1-P2))-1)，其中R1、R2、VH、VL、P1、P2分別為該第一維度阻抗、該第二維度阻抗、該高電位、該低電位、第一接觸電位、第二接觸電位。

4.如權利要求1所述的具手掌忽視的偵測位置的方法，其特征在于該接觸阻抗是依據該對導電條之一與另一之一在該接觸點的電位與該接觸點的位置來判斷，該接觸阻抗的判斷包括：

判斷該接觸點的一第一維度位置與一第二維度位置，并且依據該第一維度位置與該第二維度位置判斷出一第一維度阻抗與一第二維度阻抗；

在該對導電條之一與另一分別被提供一高電位與一低電位時感測該接觸點在該對導電條上之一與另一第一接觸電位與一第二接觸電位；以及

判斷出該接觸阻抗，其中該接觸阻抗為(R1+R2)/(((VH-VL)/(P1-P2))-1)，其中R1、R2、VH、VL、P1、P2分別為該第一維度阻抗、該第二維度阻抗、該高電位、該低電位、第一接觸電位、第二接觸電位。

5.如權利要求1所述的具手掌忽視的偵測位置的方法，其特征在于該接觸點的位置的判斷包括：

選擇相迭于該接觸點的該對導電條之一與另一分別作為一被驅動導電條與一被感測導電條，其中該被驅動導電條為該存在跨同層導電條；

在提供一高電位與一低電位于該被驅動導電條兩端時感測該被感測導電條的電位作為一位置電位；

電性耦合一延伸電阻與該被驅動導電條以成為一延伸導電條；

在該延伸導電條未被壓觸時提供該高電位與該低電位于該延伸導電條以感測該延伸電阻與該被驅動導電條間的電位作為一未壓觸電位；

在該延伸導電條被壓觸時提供該高電位與該低電位于該延伸導電條以感測該延伸電阻與該被驅動導電條間的電位作為一被壓觸電位；以及

依據該位置電位、該被驅動導電條的該未壓觸電位與該被壓觸電位判斷該接觸點在該被驅動導電條的位置。

6.一種具手掌忽視的校正位置誤差的方法，其特征在于包括：

提供復數條導電條相迭構成的復數個相迭區，其中相迭于任一相迭區的一對導電條因電性接觸形成一接觸點時構成一被壓觸相迭區；

在該些相迭區判斷出每一個壓觸；

判斷每一個壓觸是否為手掌的壓觸；

判斷每一個非手掌的壓觸的各接觸點的位置；

當任一接觸點所在的任一導電條存在跨同層導電條的接觸阻抗時，校正該非手掌的壓觸的該位置；

依據每一個非手掌的壓觸相應的各接觸點位置判斷每一個非手掌的壓觸的位置；以及

輸出每一個非手掌的壓觸的該位置。

7.如權利要求6所述的具手掌忽視的校正位置誤差的方法，其特征在于判斷每一個壓觸是否為手掌的壓觸包括：

判斷每一個被壓觸相迭區的一接觸阻抗；

依據每一個壓觸相應的該被壓觸相迭區的該接觸阻抗判斷一總接觸阻抗，其中跨相迭區的壓觸的該總接觸阻抗為該跨相迭區的壓觸相應的所有相迭區的該接觸阻抗的并聯阻抗；以及

依據每一個壓觸的該總接觸阻抗是否小于一門坎限值判斷是否為手掌的壓觸。