[發(fā)明專利]位置偵測的裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010197760.8
• 申請日: 2010-04-16
• 公開（公告）號: CN102023775A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發(fā)明（設計）人: 葉尚泰;陳家銘;何順隆
• 申請（專利權(quán)）人: 禾瑞亞科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/045
• 分類號: G06F3/045
• 代理公司: 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種位置偵測的方法，其特征在于包含：

提供復數(shù)條導電條相疊構(gòu)成的復數(shù)個相疊區(qū)；

依據(jù)相疊于每個相疊區(qū)的一對導電條間是否為通路判斷是否為一被壓觸相疊區(qū)；

判斷相應于每一個被壓觸相疊區(qū)的一接觸點的位置；

進行一過濾程序以提供位置落于相應的相疊區(qū)的一預設范圍內(nèi)的該接觸點的位置；以及

依據(jù)被提供的接觸點位置判斷出至少一壓觸的位置。

2.如權(quán)利要求1所述的位置偵測的方法，其特征在于更包括判斷每一被壓觸相疊區(qū)相應的一壓觸，其中相應于相同壓觸的該被壓觸相疊區(qū)為相鄰的相疊區(qū)。

3.如權(quán)利要求2所述的位置偵測的方法，其特征在于當至少一壓觸具有至少一接觸點的位置落于相應的相疊區(qū)外時，只提供所有接觸點皆落于相應的相疊區(qū)內(nèi)的該壓觸的一壓觸位置。

4.如權(quán)利要求3所述的位置偵測的方法，其特征在于該壓觸位置是依據(jù)相應于同壓觸的所有接觸點的位置來判斷。

5.如權(quán)利要求3所述的位置偵測的方法，其特征在于更包括：

判斷每一個被壓觸相疊區(qū)的一接觸阻抗；以及

判斷每一個壓觸的一總接觸阻抗，該總接觸阻抗為相應相同壓觸的所有相疊區(qū)的該接觸阻抗的并聯(lián)阻抗。

6.如權(quán)利要求5所述的位置偵測的方法，其特征在于該總接觸阻抗小于一門坎限值的該壓觸的位置不被判斷。

7.如權(quán)利要求5所述的位置偵測的方法，其特征在于該接觸阻抗是依據(jù)該對導電條之一與另一在該接觸點的電位與該接觸點的位置來判斷，該接觸阻抗的判斷包括：

判斷該接觸點的一第一維度位置與一第二維度位置，并且依據(jù)該第一維度位置與該第二維度位置判斷出一第一維度阻抗與一第二維度阻抗；

在該對導電條之一與另一分別被提供一高電位與一低電位時感測該接觸點在該對導電條上之一與另一之一第一接觸電位與一第二接觸電位；以及

判斷出該接觸阻抗，其中該接觸阻抗為(R1+R2)/(((VH-VL)/(P1-P2))-1)，其中R1、R2、VH、VL、P1、P2分別為該第一維度阻抗、該第二維度阻抗、該高電位、該低電位、第一接觸電位、第二接觸電位。

8.如權(quán)利要求5所述的位置偵測的方法，其特征在于該接觸阻抗是依據(jù)該對導電條之一與另一在該接觸點的電位與該被壓觸相疊區(qū)的位置來判斷，該接觸阻抗的判斷包括：

依據(jù)該被壓觸相疊區(qū)的位置判斷出一第一維度阻抗與一第二維度阻抗；

在該對導電條之一與另一分別被提供一高電位與一低電位時感測該接觸點在該對導電條上之一與另一的一第一接觸電位與一第二接觸電位；以及

判斷出該接觸阻抗，其中該接觸阻抗為(R1+R2)/(((VH-VL)/(P1-P2))-1)，其中R1、R2、VH、VL、P1、P2分別為該第一維度阻抗、該第二維度阻抗、該高電位、該低電位、第一接觸電位、第二接觸電位。

9.如權(quán)利要求1所述的位置偵測的方法，其特征在于該相疊區(qū)的該接觸點的判斷包括：

輪流選擇該對導電條之一與另一分別作為一被驅(qū)動導電條與一被感測導電條；

在提供一高電位與一低電位于該被驅(qū)動導電條兩端時感測該被感測導電條的電位作為一位置電位；以及

依據(jù)該些位置電位判斷該接觸點的位置。

10.如權(quán)利要求1所述的位置偵測的方法，其特征在于該相疊區(qū)的該接觸點的判斷包括：

輪流選擇該對導電條之一與另一分別作為一被驅(qū)動導電條與一被感測導電條；

在提供一高電位與一低電位于該被驅(qū)動導電條兩端時感測該被感測導電條的電位作為一位置電位；

電性耦合一延伸電阻與該被驅(qū)動導電條以成為一延伸導電條；

在該延伸導電條未被壓觸時提供該高電位與該低電位于該延伸導電條以感測該延伸電阻與該被驅(qū)動導電條間的電位作為一未壓觸電位；

在該延伸導電條被壓觸時提供該高電位與該低電位于該延伸導電條以感測該延伸電阻與該被驅(qū)動導電條間的電位作為一被壓觸電位；以及

依據(jù)該位置電位、該被驅(qū)動導電條的該未壓觸電位與該被壓觸電位判斷該接觸點在該被驅(qū)動導電條的位置。