[發(fā)明專利]一種投影三維測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010196473.5
• 申請(qǐng)日: 2010-06-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101865671A
• 公開(kāi)（公告）日: 2010-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姚征遠(yuǎn)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 合肥思泰光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/24
• 分類號(hào): G01B11/24
• 代理公司: 合肥天明專利事務(wù)所 34115
• 代理人: 袁由茂

1.一種投影三維測(cè)量方法，分兩次設(shè)定光源強(qiáng)度，相機(jī)曝光時(shí)間和增益值，分別對(duì)其表面的亮部分和暗部分做三維測(cè)量，對(duì)測(cè)量結(jié)果按照預(yù)定閥值做篩選，最后得到被測(cè)物體表面三維結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影三維測(cè)量方法，其特征在于：分別采集被測(cè)物體暗部分反射和被測(cè)物體亮部分反射的光柵圖像；然后使用相同的相位調(diào)制解調(diào)算法計(jì)算出被測(cè)物體的兩次三維測(cè)量結(jié)果，以其中一次為基準(zhǔn)，對(duì)測(cè)量結(jié)果按照預(yù)定閥值做篩選，若像素的灰度值無(wú)法達(dá)到閥值，用另一次的測(cè)量結(jié)果做替代，最終得到被測(cè)對(duì)象亮部分和暗部分的三維測(cè)量結(jié)果。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種投影三維測(cè)量方法，其特征在于：

(1)設(shè)定相機(jī)為長(zhǎng)曝光時(shí)間，高增益方式，投影光源為高亮度，依次投影和采集N張結(jié)構(gòu)光在測(cè)量對(duì)象表面的反射圖片，計(jì)算出三維結(jié)果同時(shí)標(biāo)記出在N次測(cè)量中平均灰度值大與設(shè)定閥值的像素；

(2)設(shè)定相機(jī)為短曝光時(shí)間，低增益方式，投影光源為低亮度，依次投影和采集N張結(jié)構(gòu)光在測(cè)量對(duì)象表面的反射圖片，計(jì)算出三維結(jié)果同時(shí)標(biāo)記出在N次測(cè)量中平均灰度值小于與設(shè)定閥值的像素；

(3)最后以其中一次的測(cè)量數(shù)據(jù)為基準(zhǔn)，其中標(biāo)記過(guò)的像素的三維值用另一次測(cè)量的高度值替代，最后得出測(cè)量對(duì)象表面亮部分和暗部分的三維值。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種投影三維測(cè)量方法，其特征在于：

(1)投影第一次結(jié)構(gòu)光，設(shè)定相機(jī)為長(zhǎng)曝光時(shí)間，高增益方式，投影光源為高亮度，采集反射圖像標(biāo)放入一組；設(shè)定相機(jī)為短曝光時(shí)間，低增益方式，投影光源為低亮度，采集反射圖像標(biāo)放入一組；

(2)從一組圖像中計(jì)算出三維結(jié)果同時(shí)標(biāo)記出在N次測(cè)量中平均灰度值大與設(shè)定閥值的像素，從另一組圖像中計(jì)算出三維結(jié)果同時(shí)標(biāo)記出在N次測(cè)量中平均灰度值小于與設(shè)定閥值的像素，最后以其中一次的測(cè)量數(shù)據(jù)為基準(zhǔn)，其中標(biāo)記過(guò)的像素的三維值用另一次測(cè)量的高度值替代，最后得出測(cè)量對(duì)象表面亮部分和暗部分的三維值。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的一種投影三維測(cè)量方法，其特征在于：同時(shí)對(duì)于兩次測(cè)量都沒(méi)有標(biāo)定過(guò)得像素取兩次測(cè)量結(jié)果的平均值作為該像素最后結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求2～4任一項(xiàng)所述的一種投影三維測(cè)量方法，其特征在于：所進(jìn)行的三維測(cè)量進(jìn)行至少兩次，使用至少兩次的三維測(cè)量，最后整合成最終的三維結(jié)果。