[發明專利]拒識方法和拒識裝置有效
| 申請號： | 201010195920.5 | 申請日： | 2010-06-08 |
| 公開（公告）號： | CN102279927A | 公開（公告）日： | 2011-12-14 |
| 發明（設計）人： | 朱遠平;孫俊;堀田悅伸;直井聰;于浩 | 申請（專利權）人： | 富士通株式會社 |
| 主分類號： | G06K9/62 | 分類號： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 康建峰;陳煒 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 方法 裝置 | ||
1.一種拒識方法，包括：
從樣本集合中搜索與中間識別結果相匹配的樣本組；
使用與匹配的樣本組相對應的拒識閾值映射函數計算拒識閾值；以及
根據計算的拒識閾值對識別結果進行拒識處理。
2.根據權利要求1所述的拒識方法，其中拒識閾值映射函數為滿足下述條件的函數：
其中，函數f()表示拒識后的錯誤拒識率，h()表示拒識率，表示拒識閾值映射函數，T表示原始拒識閾值，th_lb和th_ub為拒識閾值范圍的下限和上限。
3.根據權利要求2所述的拒識方法，其中拒識閾值映射函數為冪函數或分段線性函數。
4.根據權利要求3所述的拒識方法，其中
其中，#sample為樣本的總數量，#rejection(T)為在拒識閾值T的情況下拒識的數量，#error為識別錯誤的數量，以及#correct_rejection(T)為在拒識閾值T的情況下正確拒識的數量。
5.根據權利要求1所述的拒識方法，其中拒識閾值映射函數為滿足下述條件的函數：
其中，函數p()表示正確拒識率，h()表示拒識率，表示拒識閾值映射函數，T表示原始拒識閾值，th_lb和th_ub為拒識閾值范圍的下限和上限。
6.根據權利要求5所述的拒識方法，其中拒識閾值映射函數為冪函數或分段線性函數。
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