[發明專利]改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現象的裝置和方法

有效

• 申請號: 201010195760.4
• 申請日: 2010-06-02
• 公開（公告）號: CN102270433A
• 公開（公告）日: 2011-12-07
• 發明（設計）人: 王英
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36;G09G3/20
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本發明涉及液晶顯示器領域，尤其涉及一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現象的裝置和方法。

背景技術

隨著科學技術的發展和生活水平的提高，消費者對液晶顯示器畫面尺寸的要求也越來越高，而作為液晶顯示器的顯示部件的液晶面板，其尺寸也越來越大。

大尺寸的液晶面板，其RC(阻抗和容抗)延時會嚴重影響到液晶顯示器的畫面品質。具體地，在RC異常的情況下，容易引起液晶面板的實際電壓與期望輸入電壓之間存在差值，在灰度畫面相同時，造成極性相同的兩行電壓的電壓值并不相同，即在相同的灰度畫面下，由于RC延時的不可避免性，不同的行出現不同的灰度畫面，在畫面品質上表現為垂直方向的Dim-Line(淡灰線)或Dim-Block(淡灰塊)現象，尤其是在液晶面板的特性不一致時，即輸出通道的MOS管工藝不同時，會加重這種現象的發生。

現有技術通過采用良好的材料減小液晶面板的阻抗和容抗，即RC延時，來克服上述缺陷，但是，發明人在實現本發明的技術方案時發現，現有技術至少存在以下問題，由于通過減小阻抗和容抗的程度與工藝密切相關，因此較難把握；在液晶面板確定后，無法改變電阻值和電容值，出現由于RC異常而引起的Dim-Line或Dim-Block現象時，其維修費用相當于重新制作MASK。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現象的裝置和方法，能夠有效改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現象。

為解決上述技術問題，本發明改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現象的裝置和方法采用如下技術方案：

一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現象的裝置，包括：采樣比較單元和補償單元，

所述采樣比較單元與液晶面板亞像素單元中的像素電極相連接，用于將采樣得到的亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設定值相比較；

所述補償單元用于若所述差值電壓大于所述設定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值電壓到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設定值，則不補償。

所述補償單元的功能由電荷泵電路實現。

所述采樣比較單元包括：

采樣控制模塊，用于采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；

第一比較模塊，用于將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓；

第二比較模塊，用于將所述差值電壓與所述設定值相比較。

所述采樣控制模塊的功能由時序控制器實現。

所述采樣控制模塊的功能由時序控制器實現的實現方式為狀態機或數字邏輯電路。

所述第二比較模塊的功能由設置有所述設定值的模擬電壓比較器實現。

所述模擬電壓比較器設置在在驅動集成電路板內部或液晶面板上。

一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現象的方法，包括：

將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設定值相比較；

若所述差值電壓大于所述設定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設定值，則不補償。

所述將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設定值相比較包括：

采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；

將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓；

將所述差值電壓與所述設定值相比較。

在本實施例的技術方案中，引入了對存儲電容Cs的采樣線，利用采樣比較模塊對液晶面板上不同范圍的行及列數據進行采樣，將采樣得到的實際輸出電壓與其期望輸入電壓的灰度級別相對應的參考電壓相比較得出的差值電壓判斷是否需要補償，在該差值電壓大于某一設定值時，通過補償模塊補償差值電壓到需要補償的亞像素單元的數據線上，從而減少了由于RC異常而引起的Dim-Line或Dim-Block現象，并且其電路實現簡單，易于維修。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例整片液晶面板的等效電路圖；