[發明專利]高精度墻面貼餅方法

有效

• 申請號: 201010195569.X
• 申請日: 2010-06-09
• 公開（公告）號: CN102277977A
• 公開（公告）日: 2011-12-14
• 發明（設計）人: 伍獻忠
• 申請（專利權）人: 萬科企業股份有限公司
• 主分類號: E04G21/20
• 分類號: E04G21/20
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 陸軍

技術領域

本發明涉及建筑施工領域，更具體地說，涉及一種建筑抹灰過程中的高精度墻面貼餅方法。

背景技術

一般的民用建筑中，抹灰工程所占總的勞動量、工期、造價比例較重，同時，在工程質量評定中相當重要。因此，建筑施工企業如何搞好抹灰工程，是核定建筑工程施工質量優良與否的一項重要指標。

在建筑抹灰過程中，貼灰餅(抹灰厚度控制點)是其中重要的一個環節，其直接影響抹灰的厚度。一般墻面以四個灰餅為一組，其貼灰餅工藝具體包括以下步驟：(1)彈出房間方正度控制線，利用該線進行房間套方；(2)對需要進行抹灰的墻面試貼第一個灰餅；(3)依據第一個灰餅，利用靠尺完成第二個餅，并檢查兩個灰餅是否垂直，垂直偏差控制在2mm以內；(4)依據第一個灰餅，利用靠尺完成第三個灰餅，并檢查第一個灰餅與第三個灰餅是否平整，平整偏差在2mm以內；(5)依據第三個灰餅，利用靠尺完成第四個灰餅，并檢查第三個灰餅與第四個灰餅是否垂直，垂直偏差在2mm以內。

在采用上述步驟貼完四個灰餅后，再利用靠尺檢查第二個灰餅與第四個灰餅之間的平整度，如果不平整，需要進行調整；然后利用靠尺檢查第一個與第四個、第二個與第三個灰餅之間的平整度，如果發現中間墻體抹灰厚度或者之間的平整度不滿足要求，灰餅需要再次進行調整，直至滿足要求。

然而，上述傳統的貼灰餅工藝復雜，需要反復試貼灰餅，效率低下；部分門窗上口或者端部短墻因面積較小而沒有辦法貼餅；灰餅之間的關聯性強，一個部位必須四個灰餅形成一組，無法單獨施貼；由于缺少灰餅厚度控制，導致無法控制房間尺寸，難以保證抹灰完畢房間尺寸與圖紙要求的一致；靠尺板讀數精度較低，需要工人具有豐富的施工經驗。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，針對上述傳統貼餅工序復雜、效率低下、對施工人員要求較高的問題，提供一種高精度墻面貼餅方法。

本發明解決上述技術問題的技術方案是，提供一種高精度墻面貼餅方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、在地面設置控制線，所述控制線平行于墻面且該控制線至墻面的距離為第一距離；

b、根據所述控制線設置激光掃平儀并使所述激光掃平儀導出垂向掃平線；

c、根據所述激光掃平儀的垂向掃平線依次在需要貼餅的部位粘貼灰餅，使所述灰餅表面至所述垂向掃平線的距離為第二距離。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟b中激光掃平儀設于相鄰接的兩個墻面的控制線的十字交叉位置。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，在所述步驟(c)之后還包括：

d、檢查灰餅之間的墻面是否存在至所述激光掃平儀的垂向掃平線小于第三距離的部位，若存在則對所述至所述垂向掃平線小于第三距離的部位打鑿，直到灰餅之間的墻面至所述激光掃平儀的垂向掃平線都大于或等于第三距離。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟d中的第三距離為8毫米。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟c中粘貼灰餅時以兩個灰餅為一組。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，兩組灰餅之間的距離不超過1.5米。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟c中，每一面墻的灰餅不少于4個。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟a中的第一距離為300毫米。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟c中的第二距離為280毫米。

在本發明所述的高精度墻面貼餅方法中，所述步驟c中使用直尺測量灰餅表面至垂向掃平線的距離。

本發明的高精度墻面貼餅方法，通過地面控制線和激光掃平儀控制灰餅的粘貼位置及厚度，在提高灰餅粘貼精度的同時簡化了灰餅的粘貼復雜度，并極大提高了效率。此外，使用本發明的方法可在房間任何部位貼餅。

由于是依據控制線進行貼餅，保證了房間方正度、房間凈空尺寸，實現了按圖施工。本發明采取了精確的直尺讀數，提高了精度，降低了灰餅偏差，對抹灰的平整度、垂直度、陰陽角方正度得到較大提高。

附圖說明

下面將結合附圖及實施例對本發明作進一步說明，附圖中：

圖1是本發明的高精度墻面貼餅方法中控制線的位置示意圖；

圖2是本發明的高精度墻面貼餅方法中貼餅的示意圖；

圖3是本發明的高精度墻面貼餅方法中灰餅位置的示意圖。

具體實施方式

本發明使用激光掃平儀控制抹灰貼餅，在提高灰餅粘貼精度的同時簡化了灰餅的粘貼復雜度，并極大提高了效率。