[發明專利]一種測試向量源文件的測試點的屏蔽方法和屏蔽裝置

有效

• 申請號: 201010195435.8
• 申請日: 2010-05-31
• 公開（公告）號: CN102262205A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 胡偉鋒
• 申請（專利權）人: 無錫中星微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 郭海彬

技術領域

本發明涉及芯片的自動測試設備，特別是涉及一種測試向量源文件的測試點的屏蔽方法和屏蔽裝置。

背景技術

ATE(Automatic?Test?Equipment，自動測試設備)，是一種通過計算機控制來進行器件、電路板和芯片測試的設備。其通過計算機編程取代人工勞動，自動化的完成測試序列。

一般的ATE可以由帶一定內存深度的一組通道，一系列時序發生器及多個電源組成。這些資源是通過負載板把信號激勵到芯片插座上的芯片管腳，ATE測試系統每個管腳有獨立的測試資源。測試時候，每個管腳有對應的輸入或輸出信號，并由這些信號構成測試向量，進行不同芯片功能的測試。

在ATE進行測試時，根據每個測試向量的描述，對芯片管腳進行操作，施加輸入值，測量對應的輸出值，比較測得的輸出值與測試向量描述的預期輸出值是否一致，如果不一致就進行報錯。

ATE的開發是從簡單器件、低管腳數、低速測試系統(10MHz，64pins)到中等數量管腳、中速測試系統(40MHz，256pins)到高管腳數、高速(超過100MHz，1024pins)并最終過渡到現在的SoC(System?on?Chip，系統集成在一個芯片)測試系統(超過400MHz，1024pin，并具備模擬、存儲器測試能力)。目前器件速度已經達到1.6GHz，管腳數達到1024，所有的電路都集成到單個芯片。因此由針對管腳的測試向量構成的測試向量源文件體積特別大，甚至超過數Gbytes，其包含的測試向量更是成千上萬。

在實際測試中，由于pattern腳本或者其他原因，有些測試向量的預期輸出值永遠不能和測得的輸出值相一致，ATE會對這些測試向量對應的輸出管腳進行報錯，而有時候，這些輸出管腳并不重要，是可以忽略的，而持續存在的報錯會對產品的不良率產生了嚴重影響。

因此，需要對這些可以忽略的會報錯的測試向量進行屏蔽，但如果直接通過修改龐大的測試向量源文件來進行屏蔽，不但難于查找具體的行數，而且耗費時間，耗費系統資源，特別是要屏蔽的測試點比較多時，會讓測試工程師無所適從，嚴重影響測試進程。

發明內容

本發明的目的是提供一種測試向量源文件的測試點的屏蔽方法和屏蔽裝置，能夠通過測試數據方便迅速的屏蔽測試向量源文件中需要忽略的測試點，提高測試效率，解決現有技術無法迅速有效的對可忽略的報錯測試點進行屏蔽的技術問題。

為了實現上述目的，一方面，提供了一種測試向量源文件的測試點的屏蔽方法，包括如下步驟：

通過運行測試向量源文件進行芯片測試，產生測試數據；

根據所述測試數據產生輔助文件，所述輔助文件包括產生報錯的報錯測試向量所對應的測得值，以及所述報錯測試向量在所述測試向量源文件中的對應行數；

對于所述輔助文件中需要屏蔽的報錯測試向量，根據所述對應行數在所述測試向量源文件中找到所述需要屏蔽的報錯測試向量，并利用所述測得值替換所述需要屏蔽的報錯測試向量的期待值，得到修改后的測試向量源文件。

優選地，上述的方法中，還包括：通過將所述報錯測試向量與預置的指定測試點表單進行比較確定所述需要屏蔽的報錯測試向量。

優選地，上述的方法中，如果所述報錯測試向量中包含所述指定測試點表單中的被測管腳，則所述報錯測試向量為不能屏蔽的測試向量，否則所述報錯測試向量為所述需要屏蔽的報錯測試向量。

優選地，上述的方法中，還包括：使用所述修改后的測試向量源文件進行芯片測試。

為了實現上述目的，本發明實施例還提供了一種測試向量源文件的測試點的屏蔽裝置，包括：

執行模塊，用于：通過運行測試向量源文件進行芯片測試，產生測試數據；

輔助文件生成模塊，用于：根據所述測試數據產生輔助文件，所述輔助文件包括產生報錯的報錯測試向量所對應的測得值，以及所述報錯測試向量在所述測試向量源文件中的對應行數；

源文件修改模塊，用于：對于所述輔助文件中需要屏蔽的報錯測試向量，根據所述對應行數在所述測試向量源文件中找到所述需要屏蔽的報錯測試向量，并利用所述測得值替換所述需要屏蔽的報錯測試向量的期待值，得到修改后的測試向量源文件。

優選地，上述的裝置中，所述源文件修改模塊還用于：通過將所述報錯測試向量與預置的指定測試點表單進行比較，來確定所述需要屏蔽的報錯測試向量。

優選地，上述的裝置中，所述執行模塊，還用于：使用所述修改后的測試向量源文件進行芯片測試。

本發明至少存在以下技術效果：