[發明專利]全電波暗室

無效

• 申請號: 201010188679.3
• 申請日: 2010-06-02
• 公開（公告）號: CN102269783A
• 公開（公告）日: 2011-12-07
• 發明（設計）人: 張鋼
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種具備輻射發射與輻射抗干擾測試功能的全電波暗室。

背景技術

目前業界是根據國際無線電干擾特別委員會(International?SpecialCommittee?on?Radio?Interference)CISPR22規范做電磁波的場強測量，規范中制訂了信息科技設備的電磁波干擾特性的測量限制與方法。另，規范CISPR22：Edition?5.2將于2010年10月1日頒布規定強制實行輻射發射(RE)高頻量測，但業界測試輻射發射(RE)以及輻射抗干擾(RS)分別是通過獨立的半電波暗室進行測試的，且多數制造商只建造有RE輻射發射測試半電波暗室，由于RE輻射發射測試半電波暗室建造并不考慮RS測試的場地要求，因此輻射發射(RE)測試半電波暗室無法達到RS測試場地的要求，而如再建立輻射抗干擾(RS)測試半電波暗室將提高制造成本。

能否新建立一個全電波暗室，使其能在一個場地上同時滿足場地駐波電壓比S_VSWR及UFA均勻域(Uniform?Field?Area)的要求，即既符合RE測試要求又符合RS測試要求，由此解決目前需分別建立RE測試與RS測試半電波暗室的問題。

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種同時具備輻射發射與輻射抗干擾測試功能的全電波暗室。

根據上述問題，本發明提供一種全電波暗室，具備輻射發射測試與輻射抗干擾測試功能，所述全電波暗室呈六面體，包括依次連接的第一內壁、第二內壁、第三內壁、第四內壁、頂面以及與頂面相對的底面，測試臺及天線支架系統，所述全電波暗室的第一至四內壁以及頂面與底面均鋪設有吸波材料，所述天線支架系統固定安裝于所述底面上且靠近于第三內壁，且所述天線支架系統上安裝有可拆卸并具有中心軸對稱結構的天線，所述全電波暗室相對于第一內壁與第三內壁的中垂面成對稱結構，所述天線的中心軸線與底面平行且與所述中垂面成8度夾角設置。

本發明的全電波暗室通過將天線中心軸線與底面平行且與所述中垂面成8度夾角設置，從而可使場地駐波電壓比S_VSWR小于6dB，滿足RE測試場地要求，RE測試頻率范圍為1GHz-6GHz。RS測試頻率范圍為80MHz-3GHz，針對RS測試且頻率范圍為1GHz-3GHz時，選擇均勻域大小為1m乘1m，可使均勻內場強最大差異絕對值小于6dB，從而滿足RS測試要求；RS測試頻率范圍為80MHz-1GHz時，選擇均勻域大小為1.5m乘1.5m，可使均勻內場強最大差異絕對值小于6dB，從而滿足RS測試要求。大大節約暗室建造成本，提高暗室利用率。

附圖說明

圖1是本發明全電波暗室立體示意圖。

圖2是圖1的全電波暗室另一角度立體示意圖。

圖3是圖1的全電波暗室俯視圖。

圖4a是平板狀薄鐵氧體吸波瓦片SN-20吸波材料結構圖。

圖4b是梯臺狀FHY-NRL泡棉混合吸波材料結構圖。

圖4c是錐狀VHP-8-NRL泡棉混合吸波材料結構圖。

圖4d是錐狀VHP-18-NRL泡棉混合吸波材料結構圖。

圖5是在測試頻率為6GHz實驗條件下，所測得的場地駐波電壓比S_VSWR與天線測試軸線角度關系曲線。

主要元件符號說明

全電波暗室????????????100

第一內壁??????????????101

第二內壁??????????????102

第三內壁??????????????103

第四內壁??????????????104

頂面??????????????????105

底面????????????106

中垂面??????????AA

天線支架系統????30

天線????????????301

玻璃纖維管??????302

天線中心軸線????3011

天線中心????????3012

測試臺??????????40

吸波區域????????1011、1021、1031、1041、1051、1061

中間分區????????1062

側翼分區????????1063

屏蔽門??????????1012

角度????????????α