[發明專利]老化測試箱

有效

• 申請號: 201010187310.0
• 申請日: 2010-05-27
• 公開（公告）號: CN101858957A
• 公開（公告）日: 2010-10-13
• 發明（設計）人: 沈沖;王斌;陳劍晟;羨迪新;陳馳;高建輝
• 申請（專利權）人: 北京新潤泰思特測控技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種老化測試箱，包括設置于所述老化測試箱的測試板上的多個老化測試插座，第一溫度傳感器以及加熱器，所述第一溫度傳感器檢測所述老化測試箱內的溫度，得到第一溫度值，所述加熱器根據所述第一溫度值與老化測試箱的溫度設定值啟動或關閉，其特征在于：所述老化測試箱內至少設置有一個具有交換器的蓋板，所述蓋板與待老化測試器件之間設置有第二溫度傳感器，所述第二溫度傳感器檢測待老化測試器件的溫度，得到待老化測試器件的實際溫度值，根據待老化測試器件的實際溫度值與待老化測試器件的溫度設定值對待老化測試器件進行單獨的熱交換處理。

2.如權利要求1所述的老化測試箱，其特征在于：根據待老化測試器件的實際溫度值與待老化測試器件的溫度設定值對待老化測試器件進行單獨的熱交換處理，包括步驟：

所述交換器根據待老化測試器件的實際溫度值與待老化測試器件的溫度設定值啟動或關閉。

3.如權利要求1所述的老化測試箱，其特征在于：根據待老化測試器件的實際溫度值與待老化測試器件的溫度設定值對待老化測試器件進行單獨的熱交換處理，還包括：

所述蓋板還包括位于所述交換器與所述第二溫度傳感器之間的半導體制冷片，所述半導體制冷片根據待老化測試器件的實際溫度值與待老化測試器件的溫度設定值確定通電狀態。

4.如權利要求3所述的老化測試箱，其特征在于：所述交換器一直處于工作狀態，或僅在所述半導體制冷片進入通電狀態時工作。

5.如權利要求1或2或3或4所述的老化測試箱，其特征在于：所述蓋板與待老化測試器件之間設置有第二溫度傳感器，包括：

每個待老化測試器件對應有一個單獨的蓋板，且二者之間設置有第二溫度傳感器。

6.如權利要求1或2或3或4所述的老化測試箱，其特征在于：所述蓋板與待老化測試器件之間設置有第二溫度傳感器，包括：

每個蓋板與單個待老化測試器件相對應，且二者之間設置有第二溫度傳感器；或

每個蓋板與同一類待老化測試器件的多個相對應，且所述蓋板與所述同一類待老化測試器件中的一個之間設置有第二溫度傳感器。

7.如權利要求1或2或3或4所述的老化測試箱，其特征在于：所述蓋板具有凹槽以容納所述第二溫度傳感器，所述第二溫度傳感器與所述蓋板之間由隔熱材料隔開，當所述蓋板閉合于所述老化測試插座上時，所述第二溫度傳感器與待老化測試器件相接觸。

8.如權利要求7所述的老化測試箱，其特征在于：所述蓋板的邊緣至少設置有一個第一鎖勾，所述老化箱測試板在對應所述第一鎖勾的位置處設置有與所述第一鎖勾相配的第二鎖勾。

9.如權利要求8所述的老化測試箱，其特征在于：所述老化測試插座附近的老化測試箱測試板上設置有固定臂架與固定臂，用于與所述第一鎖勾和第二鎖勾一起將所述蓋板固定于所述老化測試插座上。

10.如權利要求1所述的老化測試箱，其特征在于：所述交換器設置有各種形狀的管道。