[發明專利]雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀

有效

• 申請號: 201010186908.8
• 申請日: 2010-05-31
• 公開（公告）號: CN101846492A
• 公開（公告）日: 2010-09-29
• 發明（設計）人: 苑立波;關春穎;楊軍
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01B9/02
• 分類號: G01B9/02;G02B6/26;G02B6/024;G02B6/255
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，由兩個光纖F-P干涉儀和光纖Mach-Zehnder干涉儀組合而成；其特征是：所述的Mach-Zehnder干涉儀由單芯保偏光纖和熔嵌式雙芯保偏光纖的兩端分別進行熔接耦合而構成；所述的兩個光纖F-P干涉儀是在熔嵌式雙芯保偏光纖的兩個纖芯上分別刻寫雙Bragg光纖光柵對構成的雙F-P腔；每個F-P腔分別嵌于Mach-Zehnder干涉儀的兩臂。

2.根據權利要求1所述的雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，其特征是：所述的熔嵌式雙芯保偏光纖是具有光敏性的中心為空氣孔，兩個纖芯對稱的部分懸掛于空氣孔中、部分嵌入包層中的雙芯光纖，兩個纖芯呈橢圓形，兩個纖芯具有相同的偏振主軸方向。

3.根據權利要求2所述的雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，其特征是：兩個光纖F-P干涉儀是由四個具有相同反射中心波長的兩組Bragg光纖光柵對構成。

4.根據權利要求3所述的雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，其特征是：同一F-P腔中的光纖光柵對的光纖光柵的反射率相同，不同的F-P腔中的光纖光柵對的光纖光柵的反射率不相同。

5.根據權利要求4所述的雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，其特征是：所述的光纖光柵的反射率在1％-99％之間。

6.根據權利要求5所述的雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，其特征是：所述的Mach-Zehnder干涉儀由單芯保偏光纖和熔嵌式雙芯保偏光纖的兩端分別進行熔接耦合而構成，是指單芯保偏光纖的尾端和熔嵌式雙芯保偏光纖一端利用保偏光纖熔接機直接對接熔合完成耦合，或是對熔接后的光纖利用拉錐機在兩光纖焊點處進行加熱拉錐，在焊點處形成準錐形結構來實現1×2分束，而熔嵌式雙芯保偏光纖另一端與單芯保偏光纖形成準錐形結構來實現2×1合波器的功能。

7.根據權利要求6所述的雙F-P腔與Mach-Zehnder組合干涉儀，其特征是：所述的熔嵌式雙芯保偏光纖纖芯進行鉺摻雜。