[發(fā)明專利]提高LED芯片圖形識別能力的方法及其系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010186840.3
• 申請日: 2010-05-27
• 公開（公告）號: CN101866997A
• 公開（公告）日: 2010-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張曉飛;王大文
• 申請（專利權(quán)）人: 大余眾能光電科技有限公司
• 主分類號: H01L33/00
• 分類號: H01L33/00
• 代理公司: 贛州凌云專利事務(wù)所 36116
• 代理人: 曾上

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及LED發(fā)光二極管自動化生產(chǎn)或測試機臺圖形識別技術(shù)，尤其是一種提高LED芯片圖形識別能力的方法及其系統(tǒng)。

背景技術(shù)

發(fā)光二極管的生產(chǎn)、檢測流程中使用的自動化機具包括粘晶機(Die?Bonder)、邦定機(Wire?Bonder)及芯片檢測機(Chip?Prober)等均需要圖形識別(Pattern?Recognition)功能，以判別芯片的正確位置并引導(dǎo)機臺動作。為提高鑒別率及計算器處理速度均采用單色的CCD作為影像攝取工具，因此僅能判讀影像的灰階(Gray?Level)。

LED芯片上的結(jié)構(gòu)以金屬電極最為明顯易判讀，因此在執(zhí)行影像識別時一向以金屬電極的圖形為依據(jù)。但芯片表面粗化(Surface?Roughen)及圖案基板(Patterned?SapphireSubstrate)等提高芯片亮度新技術(shù)的采用往往造成CCD影像灰階的變化導(dǎo)致金屬電極不易區(qū)分。

目前一般采用單色光源，利用金屬電極表面的黃金對不同波長反射率不同的特性改變其反射亮度以造成灰階的差異化，但其差異不大并且不同芯片表面的灰階不同仍然造成批量生產(chǎn)中的困擾。因此需要一個更好的方案可造成更大的灰階差異并且適用于各種芯片。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明目的是加大LED發(fā)光二極管芯片上金屬電極與其它部分灰階差異并能適用于各種芯片，方便LED發(fā)光二極管的生產(chǎn)、檢測流程中進行圖形識別(PatternRecognition)，以判別芯片的正確位置并引導(dǎo)機臺動作，而提供一種提高LED芯片圖形識別能力的方法及其系統(tǒng)。

本發(fā)明技術(shù)方案：提高LED芯片圖形識別能力的方法，以線形偏振光源為照明光源，在CCD成像裝置前設(shè)置有第二偏光鏡以改變金屬電極之影像灰階；

線形偏振光源為采用無特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源，于該光源前設(shè)置第一偏光鏡，讓一特定方向分亮之光通過而形成線形偏振入射光。

提高LED芯片圖形識別能力的系統(tǒng)，包括無特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源、CCD成像裝置，在無特殊偏振方向——圓形偏振之典型入射光源前設(shè)置有形成線形偏振入射光的第一偏光鏡，在CCD成像裝置前設(shè)置有改變金屬電極之影像灰階的第二偏光鏡；

第二偏光鏡與第一偏光鏡偏振方向既可以垂直也可以平行；

第二偏光鏡與第一偏光鏡鏡面均包覆經(jīng)碘浸染的聚乙烯醇膜。

若以線形偏振的光源入射于芯片表面，無論粗化的芯片表面或圖案基板其散射出來光線的偏振方向?qū)⑸y成幾乎是接近圓形對稱的橢圓形偏振，而相對較平坦的金屬電極則維持原來的線形偏振或很接近入射光源的極狹長橢圓形偏振，再置一偏光鏡于CCD前則可以明顯改變金屬電極影像的亮度達到差異化的。

本發(fā)明有益效果：通過加大LED發(fā)光二極管芯片上金屬電極與其它部分灰階差異，使之能適用于各種芯片，方便LED發(fā)光二極管的生產(chǎn)、檢測流程中進行圖形識別(PatternRecognition)，以判別芯片的正確位置并引導(dǎo)機臺動作，顯著提高芯片鑒別率和生產(chǎn)效率，降低廢品率和生產(chǎn)成本。

具體實施方式

實施例一

采用無特殊偏振方向(圓形偏振)之典型入射光源，置第一偏光鏡于該光源前讓一特定方向分亮之光通過而形成線形偏振入射光，金屬電極之反射光之偏振明顯較芯片其它面積集中于入射光之偏振方向；置第二偏光鏡于CCD前，其偏振方向與第一偏光鏡偏振方向垂直，則金屬電極之反射光幾乎無法通過而造成較深之影像而區(qū)別于其它區(qū)域。此處之第一及第二偏光鏡可采用如液晶(LCD)使用之透過式偏光膜或其它反射式偏光鏡均可。

實施例二

同實施例一，但其第二偏光鏡之偏振方向平行于第一偏光鏡偏振方向，則金屬電極之反射光幾乎全數(shù)通過而造成較明亮之影像而區(qū)別于其它區(qū)域。