[發明專利]一種可觀測超聲條件下聚合物結晶過程的偏光顯微鏡裝置

有效

• 申請號: 201010186229.0
• 申請日: 2010-05-26
• 公開（公告）號: CN101980066A
• 公開（公告）日: 2011-02-23
• 發明（設計）人: 劉麗;周杰;吳文潭
• 申請（專利權）人: 上海大學
• 主分類號: G02B21/36
• 分類號: G02B21/36;G02B21/00;C30B29/58
• 代理公司: 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205
• 代理人: 何文欣

1.一種可觀測超聲條件下聚合物結晶過程的偏光顯微鏡裝置，包括一個安置在光源發生器(5)上方的樣品臺(6)，其特征在于所述樣品臺(6)固定在一個上下開口的圓筒形加熱裝置(3)中，該圓筒加熱裝置(3)的外側裝有一個超聲發生裝置(4)，在所述樣品臺(6)上擱置一個像轉移裝置(2)，在該像轉移裝置(2)的上方設置一個觀測裝置(1)；所述像轉移裝置(2)利用透鏡成像原理，將超聲作用下的聚合物的結晶形貌圖像轉移至可觀察區域，再利用所述觀測裝置(1)對超聲作用下聚合物的動態結晶過程進行觀察研究。

2.根據權利要求1所述的可觀測超聲條件下聚合物結晶過程的偏光顯微鏡裝置，其特征在于所述像轉移裝置(2)包括實像接收屏(7)、像距校準手輪(8)、透鏡筒(9)、凸透鏡(10)、上耐高溫光學鏡片(11)、耐高溫絕熱環(12)、耐高溫絕熱層(13)、真空筒(14)和下耐高溫光學鏡片(15)；所述透鏡筒(9)下端與耐高溫絕熱環(12)螺紋旋接，耐高溫絕熱環(12)的下端與真空筒(14)的上端螺紋旋接，上耐高溫光學鏡片(11)嵌裝在耐高溫絕熱環(12)內壁凹槽內，下耐高溫光學鏡片(15)嵌裝在真空筒(14)下部內壁凹槽內，凸透鏡(10)嵌裝在像距校準手輪(8)內壁凹槽內，像距校準手輪(8)與透鏡筒(9)螺紋旋接，像距校準手輪(8)經齒輪系統與實像接收屏(7)相連，可控制和調節實像接收屏(7)的高度，使得透過凸透鏡(10)的成像清晰呈現在實像接收屏(7)上。

3.根據權利要求1所述的可觀測超聲條件下聚合物結晶過程的偏光顯微鏡裝置，其特征在于所述超聲發生裝置(4)是：兩塊超聲振板放置在加熱裝置(3)的兩側，超聲振板與加熱裝置之間通過焊接鋼條連接在一起，超聲發生器安置在一旁，超聲發生器與超聲振板之間采用帶插座的高頻連接。

4.根據權利要求1所述的可觀測超聲條件下聚合物結晶過程的偏光顯微鏡裝置，其特征在于所述觀測裝置(1)是一個觀測筒上插置一臺數碼相機，數碼相機連接計算機。