[發明專利]電參數測量裝置、系統及方法

無效

• 申請號: 201010185502.8
• 申請日: 2010-05-28
• 公開（公告）號: CN101846699A
• 公開（公告）日: 2010-09-29
• 發明（設計）人: 陳忠強;由恒遠;趙廷發;牟君;田麗麗;辛靜
• 申請（專利權）人: 青島特銳德電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R15/20
• 分類號: G01R15/20
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 逯長明

1.一種電參數測量裝置，其特征在于，包括電磁感應電路、感應信號處理單元和定位單元；

所述電磁感應電路包括導體和至少一個輸出端；

所述導體用于獲取與被測電路的磁通量變化相對應的感應電參數模擬信號，所述感應電參數模擬信號至少包括感應電動勢信號和感應電流信號中的一種；

所述定位單元用于確定所述導體與被測電路之間的距離；

所述感應信號處理單元用于對所述電磁感應電路輸出的感應電參數模擬信號進行處理。

2.如權利要求1所述的電參數測量裝置，其特征在于，所述感應信號處理單元包括模擬信號處理單元，所述模擬信號處理單元包括相連接的放大電路和濾波電路，所述放大電路包括相連接的一級放大電路和二級放大電路，所述一級放大電路或濾波電路的輸入端與所述電磁感應電路的輸出端相連接。

3.如權利要求2所述的電參數測量裝置，其特征在于，所述模擬信號處理單元還包括移相電路。

4.如權利要求2所述的電參數測量裝置，其特征在于，所述感應信號處理單元還包括數據處理單元，所述數據處理單元包括將模擬信號轉換為相應數據的轉換單元和對所述數據進行處理的中央處理單元，所述模擬信號包括所述感應電參數模擬信號，所述數據包括感應電參數數據。

5.如權利要求2-4任一項所述的電參數測量裝置，其特征在于，所述一級放大電路和/或二級放大電路包括負反饋網絡，所述負反饋網絡中包括數字電位器。

6.如權利要求5所述的電參數測量裝置，其特征在于，所述中央處理單元包括補償單元，所述補償單元用于對轉換單元輸出的數據進行補償處理，生成相應的指令并發送給所述數字電位器。

7.如權利要求6所述的電參數測量裝置，其特征在于，所述中央處理單元還包括干擾處理單元，所述干擾處理單元用于對所述感應電參數數據進行濾波處理和/或同頻干擾處理。

8.如權利要求7所述的電參數測量裝置，其特征在于，還包括溫度感應單元；

所述溫度感應單元包括相串聯的溫度采集電路和溫度信號放大電路；

所述溫度采集電路用于根據溫度生成溫度模擬信號；

所述溫度信號放大電路用于對所述溫度采集電路生成的溫度模擬信號進行放大處理，所述溫度信號放大電路的輸出端與所述轉換單元相連接；

所述模擬信號還包括溫度模擬信號，所述數據還包括溫度數據。

9.一種電參數測量系統，其特征在于，包括如權利要求1-8任一項所述的電參數測量裝置和對所述電參數測量裝置輸出的信號或數據進行處理的處理單元；

所述信號至少包括感應電參數模擬信號和溫度模擬信號中的一種，所述數據至少包括感應電參數數據和溫度數據中的一種。

10.一種基于電參數測量裝置的電參數測量方法，其特征在于，所述電參數測量裝置包括電磁感應電路，所述電磁感應電路包括導體，所述方法包括：

對所述導體進行定位；

利用導體獲取與被測電路的磁通量變化相對應的感應電參數模擬信號，所述感應電參數模擬信號包括感應電動勢和/或感應電流；

對所述感應電參數模擬信號進行處理。