[發明專利]一種RFID標簽介質影響的基準測試系統及方法

有效

• 申請號: 201010185459.5
• 申請日: 2010-05-28
• 公開（公告）號: CN101833034A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發明（設計）人: 關強;劉禹
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所
• 主分類號: G01R23/00
• 分類號: G01R23/00;G06K19/067
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 梁愛榮

技術領域

本發明涉及射頻識別技術的測試領域技術領域，尤其涉及一種對RFID標簽介質影響進行測試的系統及方法。

背景技術

RFID全稱為射頻識別(Radio?Frequency?Identification)，是一種利用射頻技術實現的非接觸式自動識別技術。RFID標簽具有體積小、讀寫速度快、形狀多樣、使用壽命長、可重復使用、存儲容量大、能穿透非導電性材料等特點，結合RFID讀寫器可以實現多目標識別和移動目標識別，進一步通過與互聯網技術的結合還可以實現全球范圍內物品的跟蹤與信息的共享。RFID技術應用于物流、制造、公共信息服務等行業，可大幅提高管理與運作效率，降低成本。

RFID技術目前已經成為IT領域的熱點，眾多機構和企業都在大力推廣這種技術。隨著RFID技術飛速發展，相關產品的生產廠家逐漸增多，RFID標簽的品種也已經上升到數百種，并且還在不斷推出新的產品。為了在繁多的RFID標簽中選擇最能夠滿足使用者需求的產品，就需要對RFID產品的性能指標進行專門的測試，由于不同RFID應用的場景不同，標簽介質也會有很大變化，因此RFID標簽介質影響是RFID標簽產品的重要性能指標之一。RFID標簽介質影響是指對于同一款電子標簽，由于應用介質不同而造成的標簽性能差異，這種差異體現為標簽反向散射信號變化，包括增強和減弱。

由于RFID標簽會受到其它介質影響從而產生諧振頻率漂移，因此RFID標簽的性能與其周圍的介質材料有關。理論研究已驗證了2.45GHz的RFID標簽天線受環境影響情況，塑料瓶水、玻璃瓶水、金屬罐頭瓶水均改變了標簽天線的諧振頻率，同時介質與標簽天線之間的距離也是一個關鍵因素，介質距離標簽天線越近，對標簽天線的諧振頻率影響越大。在距離小于5cm時，塑料瓶水和玻璃瓶水均導致天線的諧振頻率向低端偏移；而金屬罐頭瓶水在0.3cm以內嚴重影響天線的匹配性能，導致天線不工作，當距離逐漸增加時，天線的匹配性逐漸改善，距離超過3cm時，天線的諧振頻率向高端偏移；當介質距離天線的位置超過5cm時，對天線性能影響不大。為了盡量降低應用中RFID標簽周圍的介質對天線諧振頻率的影響，有必要測量每一款RFID標簽產品的介質影響程度以獲得該產品在不同介質、不同距離下的性能表現。

基準測試的目的是通過設計合理的測試方法、測試流程和測試工具對一類測試對象的某項性能指標進行測試，并且保證測試取得的結果是可比較的、可重復的。使用基準測試方法對RFID標簽介質影響進行測試，不僅可以通過觀測RFID標簽反向散射信號的變化以評價該測試標簽對于不同基底材料和不同間距下的工作狀態，還可以利用RFID標簽介質影響測試的結果，指導使用者在RFID部署前即根據應用環境中介質材料的特點選擇更加友好和能量轉換效率更高的RFID標簽。

發明內容

本發明所述一種RFID標簽介質影響的基準測試系統及方法，其目的是為使用者提供一種簡單、明確、有效的自動化測試工具和基準測試方法，用以在標準測試環境下快速評價一款RFID標簽在不同介質材料和不同間距情況下所產生的性能差異，從而為使用者設備選型和應用部署提供決策參考。

本發明所述一種RFID標簽介質影響的基準測試系統及方法，實現在輸入能量相同的情況下，待測標簽與不同基底的介質材料間距一定距離時量測介質與間距對待測標簽諧振頻率的影響，其原理是在理想空間中為待測標簽更換各種基底的介質材料，并改變待測標簽與基底材料之間的間距，從而觀測待測標簽反向散射信號的變化以評價待測標簽對于不同基底材料和不同間距下的工作狀態。