[發明專利]總光通量測量裝置以及總光通量測量方法

有效

• 申請號: 201010182880.0
• 申請日: 2010-05-21
• 公開（公告）號: CN101893479A
• 公開（公告）日: 2010-11-24
• 發明（設計）人: 大久保和明;三島俊介
• 申請（專利權）人: 大*電子株式會社
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇;陳立航

1.一種總光通量測量裝置，具備：

主體，其構成為能夠安裝作為棒狀發光體的對象物；

積分部，其具有用于使上述對象物沿縱長方向貫通該積分部的第一孔和第二孔；

相對移動機構，其用于在上述對象物貫通上述積分部的狀態下使上述對象物和上述積分部相對移動；

測量部，其用于通過觀測窗來測量上述積分部內的照度，該觀測窗被設置于上述積分部的與上述第一孔和上述第二孔不同的位置處；以及

處理部，其用于根據由上述測量部在如下情況下測量出的照度，算出上述對象物所放射出的總光通量，該情況是使上述對象物和上述積分部相對移動而使上述對象物全部的發光面都曾暴露于上述積分部的內部空間。

2.根據權利要求1所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

上述積分部包括：

半球部，其在內壁面具有光漫反射層；以及

平面鏡，其被配置成封住上述半球部的開口。

3.根據權利要求2所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

上述第一孔被設置于上述平面鏡上的、上述半球部的實際曲率中心處，

上述第二孔被設置于上述平面鏡的法線與上述半球部的交點處，該法線通過設置有上述第一孔的位置。

4.根據權利要求3所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

還具備筒狀的限制部，該限制部用于限制上述對象物要暴露于上述積分部的內部空間的發光面，上述限制部與上述第二孔連通，并且在暴露于上述積分部的內部空間的面上具有反射層。

5.根據權利要求4所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

上述限制部構成為使暴露于上述積分部的內部空間的上述對象物的發光面的縱長方向上的長度為上述半球部的半徑的5/6以下。

6.根據權利要求1所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

上述積分部包括：

球體部，其在內壁面具有光漫反射層；以及

擋板，其被設置于上述對象物的發光面與上述觀測窗之間，

上述總光通量測量裝置還具備筒狀的第一限制部和第二限制部，該第一限制部和第二限制部用于限制上述對象物要暴露于上述積分部的內部空間的發光面，

上述第一限制部與上述第一孔連通，并且在暴露于上述積分部的內部空間的面上具有反射層，

上述第二限制部與上述第二孔連通，并且在暴露于上述積分部的內部空間的面上具有反射層。

7.根據權利要求1～6中的任一項所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

還具備至少一個受光部，該至少一個受光部用于測量從存在于上述積分部的外部的上述對象物的發光面放射出的光的亮度，

上述處理部根據上述至少一個受光部的亮度測量結果校正上述對象物的發光特性變動來算出上述總光通量。

8.根據權利要求1～6中的任一項所述的總光通量測量裝置，其特征在于，

上述相對移動機構逐步改變上述對象物與上述積分部的相對位置，每次改變與暴露于上述積分部的內部空間的上述對象物的發光面的縱長方向上的長度相同的距離，

上述處理部通過對在上述對象物與上述積分部的各相對位置處測量出的照度進行累積來算出上述總光通量。

9.一種總光通量測量方法，具備以下步驟：

將作為棒狀發光體的對象物安裝在測量裝置上，上述測量裝置包括：積分部，其具有用于使上述對象物沿縱長方向貫通該積分部的第一孔和第二孔；以及測量部，其用于通過觀測窗來測量上述積分部內的照度，該觀測窗被設置于上述積分部的與上述第一孔和上述第二孔不同的位置處，

在上述對象物貫通上述積分部的狀態下，使上述對象物和上述積分部相對移動以使上述對象物全部的發光面都會暴露于上述積分部的內部空間；

在多個相對位置處使用上述測量部來測量照度；以及

根據在上述多個相對位置處測量出的多個照度來算出上述對象物所放射出的總光通量。