[發(fā)明專利]移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010182139.4
• 申請(qǐng)日: 2010-05-18
• 公開（公告）號(hào): CN101834680A
• 公開（公告）日: 2010-09-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊小鋒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/00
• 分類號(hào): H04B17/00;H04W24/00
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)

由于移動(dòng)通訊終端產(chǎn)品所用電子元器件的參數(shù)一致性通常不足以滿足設(shè)備頻率、功率電平和其它參數(shù)的性能要求，所以射頻測(cè)試和校準(zhǔn)過程自然就成為了研發(fā)和生產(chǎn)過程中不可缺少的一個(gè)步驟，而基帶測(cè)試對(duì)于盡早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品隱患、保證產(chǎn)品質(zhì)量、提升廠商生產(chǎn)制造能力有不可缺少的作用，所以在移動(dòng)通訊終端制造工廠都需要進(jìn)行相關(guān)的生產(chǎn)測(cè)試。另一方面，這些測(cè)試的儀器和資源投入相當(dāng)昂貴，分?jǐn)偟矫恳粋€(gè)單位生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間上的儀器成本就成為了產(chǎn)品制造成本中最主要的部分。所以提高儀器和測(cè)試資源的利用率是移動(dòng)通訊終端制造廠商降低產(chǎn)品成本應(yīng)對(duì)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的最重要手段。

相關(guān)技術(shù)中，傳統(tǒng)的生產(chǎn)測(cè)試過程一般是需要三個(gè)工位連續(xù)進(jìn)行的。一個(gè)工位進(jìn)行的是基帶測(cè)試(Baseband?Test，簡(jiǎn)稱BB測(cè)試)，一個(gè)工位進(jìn)行的是射頻校準(zhǔn)測(cè)試，另外還有一個(gè)工位進(jìn)行射頻指標(biāo)測(cè)試。首先在基帶測(cè)試工位進(jìn)行單板測(cè)試，采用ICT在線測(cè)試的探針測(cè)試方法檢驗(yàn)PCBA單板是否焊接可靠，硬件功能是否實(shí)現(xiàn)，軟件是否能正常工作等；然后第二個(gè)工位對(duì)射頻接收電路和發(fā)射電路分別進(jìn)行校準(zhǔn)測(cè)試(以下簡(jiǎn)稱校準(zhǔn))；最后再到第三個(gè)工位進(jìn)行射頻指標(biāo)最終測(cè)試(以下簡(jiǎn)稱終測(cè))來檢驗(yàn)校準(zhǔn)結(jié)果是否滿足要求。

這種傳統(tǒng)的測(cè)試方法有兩個(gè)缺陷，第一、每一個(gè)待測(cè)產(chǎn)品都需要分別在三個(gè)測(cè)試工位測(cè)試，產(chǎn)品需要進(jìn)行三次開、關(guān)機(jī)操作及更換測(cè)試夾具系統(tǒng)，浪費(fèi)了操作時(shí)間和人力，同時(shí)重復(fù)進(jìn)行開關(guān)機(jī)過程也是一種效率的浪費(fèi)；第二、在后兩個(gè)工位上都分別要進(jìn)行發(fā)射、接收電路的射頻校準(zhǔn)和終測(cè)，這兩個(gè)過程都需要用到手機(jī)測(cè)試儀，由于手機(jī)測(cè)試儀(以下簡(jiǎn)稱儀器)的發(fā)射和接收測(cè)試功能實(shí)際上是分開串行工作的，這對(duì)于儀器來說至少造成了50％的閑置浪費(fèi)，通常儀器的價(jià)格比較昂貴，單臺(tái)價(jià)格一般五六十萬乃至上百萬，產(chǎn)量提升增加儀器就需要投入大量的資金，制造企業(yè)往往難以承受，因此如果把這50％的閑置時(shí)間得以充分利用，對(duì)企業(yè)來說就大大的降低了投資，提高了單位投資的產(chǎn)出量。

發(fā)明內(nèi)容

針對(duì)相關(guān)技術(shù)中采用傳統(tǒng)的測(cè)試方案對(duì)移動(dòng)終端測(cè)試時(shí)，造成儀器閑置浪費(fèi)的問題，本發(fā)明的主要目的在于提供一種無線移動(dòng)終端的測(cè)試方法及系統(tǒng)，以解決上述問題至少之一。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種移動(dòng)終端的測(cè)試方法，包括：在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行接收機(jī)RX測(cè)試，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行發(fā)射機(jī)TX測(cè)試，其中，RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。

根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)，包括：接收機(jī)RX測(cè)試裝置，用于在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第一移動(dòng)終端執(zhí)行RX測(cè)試，其中，RX測(cè)試包括接收電路校準(zhǔn)測(cè)試和接收指標(biāo)測(cè)試；發(fā)射機(jī)TX測(cè)試裝置，用于在時(shí)間段內(nèi)，對(duì)第二移動(dòng)終端執(zhí)行TX測(cè)試，其中，TX測(cè)試包括發(fā)射電路校準(zhǔn)測(cè)試和發(fā)射指標(biāo)測(cè)試。

通過本發(fā)明，在同一個(gè)時(shí)間段內(nèi)，對(duì)移動(dòng)終端并行執(zhí)行接收機(jī)測(cè)試(Receiver?Test，簡(jiǎn)稱為RX)和發(fā)射機(jī)測(cè)試(Transmitter?Test，簡(jiǎn)稱TX)，解決了相關(guān)技術(shù)中采用傳統(tǒng)的測(cè)試方案對(duì)移動(dòng)終端測(cè)試時(shí)，造成儀器閑置浪費(fèi)的問題，進(jìn)而可以提高儀器利用率，降低測(cè)試成本。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試時(shí)序圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的移動(dòng)終端的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

下文中將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。

相關(guān)技術(shù)中，由于移動(dòng)終端(例如，手機(jī))測(cè)試儀(以下簡(jiǎn)稱儀器)的發(fā)射和接收測(cè)試功能是分開串行工作的，因而對(duì)于儀器來說造成了閑置浪費(fèi)。為了提高測(cè)試系統(tǒng)的利用率，因而需要一種能夠減小資源閑置的方案。