[發(fā)明專利]陶瓷基板制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010181193.7 | 申請日: | 2010-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN102254832A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 林文新 | 申請(專利權(quán))人: | 禾伸堂企業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;H05K3/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 周長興 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陶瓷 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明為有關(guān)一種陶瓷基板制造方法,尤其指可通過電鍍、切割等加工工藝進行制造陶瓷基板的方法,利用電鍍加工與切割、研磨作業(yè),不必通過蝕刻液的蝕刻工藝,避免對人體或環(huán)境形成傷害,依此制造的陶瓷基板線路,不管金屬層多厚,所生產(chǎn)出來的線路皆無梯度,且形成的線路上底及下底尺寸接近一樣,可制作業(yè)界高精密度的陶瓷基板。
背景技術(shù)
按,隨著科技發(fā)展的突飛猛進及人類對更高生活質(zhì)量的追求,所以對于許多產(chǎn)品的應(yīng)用特性趨向極為嚴(yán)格的要求,造成新開發(fā)材料的使用成為必要的手段,而現(xiàn)今的集成電路封裝工藝,受追求傳輸效率更佳以及體積小型化的影響(如行動電話、迷你筆記型計算機的電子組件),因此業(yè)界對這方面投入了相當(dāng)可觀的研究經(jīng)費,而經(jīng)過多年的研究后,發(fā)明一種以使用陶瓷材質(zhì)所制成的陶瓷基板,而陶瓷基板具有優(yōu)良的絕緣性、化學(xué)安定性、電磁特性、高硬度、高熱導(dǎo)、耐磨耗及耐高溫,所以陶瓷基板所可達(dá)成的功效遠(yuǎn)比傳統(tǒng)基板更好,因此,陶瓷基板于目前在被使用的頻率上也就越來越高。
然而,一般陶瓷基板上利用熱壓合方式附著有金屬層、導(dǎo)電層后,需利用干膜層貼附于導(dǎo)電層上,并進行曝光顯影及蝕刻作業(yè),讓所需的金屬層及導(dǎo)電層留下形成線路,由于金屬層通常具有較難蝕刻的特性,導(dǎo)致蝕刻過程中蝕刻液對導(dǎo)電層產(chǎn)生較多的移除,因為曝光顯影時已將預(yù)定線路的圖案顯示于干膜層上,在陶瓷基板的加工工藝中,使用過的蝕刻液(大都為氯化鐵或氯化銅等化學(xué)液劑),不僅造成對人體的傷害,使用后的廢棄處理則容易形成對環(huán)境的污染。
如何解決公知陶瓷基板在工藝上因使用蝕刻液所產(chǎn)生傷害人體、污染環(huán)境的問題與缺失,即為從事此行業(yè)的相關(guān)廠商亟欲研究改善的方向所在。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種陶瓷基板的制造方法,可改變陶瓷基板制造方式,不利用蝕刻作業(yè)制造的陶瓷基板制造方法。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供的陶瓷基板制造方法,指可通過電鍍、切割等加工工藝進行制造陶瓷基板的方法,其步驟為:
(a)陶瓷基板上貼附干膜層;
(b)對干膜層進行曝光顯影,而于干膜層上形成預(yù)設(shè)路徑;
(c)再于陶瓷基板與干膜層上涂布第一金屬層;
(e)第一金屬層上鍍銅層;
(f)對陶瓷基板上的干膜層、第一金屬層及銅層進行切割、研磨,并將干膜層由陶瓷基板上移除;
(g)陶瓷基板上形成適當(dāng)高度的銅層;
(h)陶瓷基板的銅層表面予以電鍍第二金屬層,即完成陶瓷基板的制造。
所述的陶瓷基板制造方法,其中,該陶瓷基板為利用軟生胚所燒結(jié)制成,并進行打孔后形成具一個或一個以上貫穿孔的陶瓷基板。
所述的陶瓷基板制造方法,其中,該軟生胚為利用氮化鋁(AlN)或氧化鋁(Al2O3)材質(zhì)制成。
所述的陶瓷基板制造方法,其中,該第一金屬層為鎳、鉻、硅(Ni/Cr/Si)、鎳鉻硅合金(Ni/Cr/Si)或鎳鉻硅與銅的合金(Ni/Cr/Si+Cu)、鐵鈷合金(Fe/Co)、鐵鈷鎳合金(Fe/Co/Ni)材質(zhì)所制成,且介質(zhì)層的厚度可為0.15μm~0.5μm。
所述的陶瓷基板制造方法,其中,該銅層通過電鍍、蒸鍍、濺鍍的加工方式成型于第一金屬層上,且銅層的厚度可為50μm~75μm。
所述的陶瓷基板制造方法,其中,該銅層表面通過電鍍、蒸鍍或濺鍍的加工方式所鍍的第二金屬層,為鎳/金/銀(Ni/Au/Ag)的材質(zhì)的第二金屬層。
本發(fā)明不需經(jīng)由蝕刻工藝作業(yè),即不會產(chǎn)生廢棄蝕刻液,避免造對成人體傷害及環(huán)境污染。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的制造方法流程圖。
圖2為本發(fā)明的工藝的立體外觀圖。
圖3為本發(fā)明的陶瓷基板成型前的側(cè)視剖面圖。
圖4為本發(fā)明的側(cè)視剖面圖。
附圖中主要元件符號說明:
1陶瓷基板,11貫穿孔,2干膜層,3第一金屬層,4銅層,5第二金屬層。
具體實施方式
本發(fā)明的制造方法,其步驟是在陶瓷基板上先貼附干膜層(Dryfilm),并進行曝光顯影而形成預(yù)設(shè)線路布局的路徑,再于陶瓷基板與干膜層上涂布第一金屬層,且對陶瓷基板上的干膜層、第一金屬層及銅層進行切割并整平,則將干膜層由陶瓷基板上移除,而在陶瓷基板上形成適當(dāng)高度的銅層后,由陶瓷基板的銅層表面進行電鍍第二金屬層,即完成陶瓷基板的制造,不需經(jīng)由蝕刻工藝作業(yè),即不會產(chǎn)生廢棄蝕刻液,避免造對成人體傷害及環(huán)境污染。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





