[發明專利]電氣連接構件的接著強度測試裝置及其無摩擦校正元件

有效

• 申請號: 201010180785.7
• 申請日: 2010-05-14
• 公開（公告）號: CN101887007A
• 公開（公告）日: 2010-11-17
• 發明（設計）人: 蘇家禾;林文生;陳政杰
• 申請（專利權）人: 宇創視覺科技股份有限公司
• 主分類號: G01N19/04
• 分類號: G01N19/04;G01N3/24
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 鄭小軍;馮志云

1.一種電氣連接構件的接著強度測試裝置，包含：

一平臺，具有一個二維驅動器；

一元件固持器，設置于該平臺上且經配置以固持一電子元件；

一直立式驅動器，設置于該平臺上；

一懸臂，設置于該直立式驅動器上；以及

一測試頭，以可旋轉方式連接于該直立式驅動器。

2.根據權利要求1所述的接著強度測試裝置，其中該測試頭包含一力傳感器，該力傳感器經配置以在該測試頭移動時量測作用于該電子元件的力。

3.根據權利要求2所述的接著強度測試裝置，其中該力傳感器包含一壓電元件。

4.根據權利要求3所述的接著強度測試裝置，其中該壓電元件呈S形。

5.根據權利要求1所述的接著強度測試裝置，其中該測試頭包含一第一探針及一第二探針，該第二探針實質上垂直于該第一探針。

6.根據權利要求5所述的接著強度測試裝置，其中該第一探針的針尖位置與該第二探針沿一轉軸旋轉后的針尖位置實質上相同。

7.根據權利要求5所述的接著強度測試裝置，其中該第一探針為一剪力探針，經配置以施加一剪力于該電子元件的球體。

8.根據權利要求7所述的接著強度測試裝置，其中該剪力探針經配置以水平方式推動該球體。

9.根據權利要求5所述的接著強度測試裝置，其中該第二探針包含一鉤部，該鉤部經配置以鉤住該電子元件的導線。

10.根據權利要求9所述的接著強度測試裝置，其中該鉤部經配置以直立方式拉動該導線。

11.根據權利要求1所述的接著強度測試裝置，其中該測試頭經配置以沿一轉軸旋轉，該轉軸實質上垂直該懸臂。

12.根據權利要求1所述的接著強度測試裝置，其中該測試頭經配置以沿一轉軸旋轉，該轉軸實質上平行于一水平面。

13.一種剪力測試的無摩擦校正元件，包含：

一基板；

兩個支撐件，設置于該基板上；

一轉軸，設置于該支撐件之間，該轉軸具有兩個錐形端，該轉軸經配置以可旋轉方式接觸該支撐件；以及

一校正件，固定于該轉軸上。

14.根據權利要求13所述的無摩擦校正元件，其中該校正件包含一墜件。

15.根據權利要求14所述的無摩擦校正元件，其中該無摩擦校正元還包含一磁塊，該磁塊設置于該墜件上，該基板包含一面向該磁塊的磁性元件。

16.根據權利要求13所述的無摩擦校正元件，其中各支撐件包含一磁性元件，該轉軸的一個錐形端接觸該磁性元件。

17.根據權利要求16所述的無摩擦校正元件，其中該轉軸實質上垂直該磁性元件。

18.根據權利要求13所述的無摩擦校正元件，其中該轉軸穿透該校正件。

19.根據權利要求13所述的無摩擦校正元件，其中該校正件包含一接觸部，該接觸部經配置以接觸一探針。