[發明專利]一種流量式泄漏檢測方法及裝置無效
| 申請號: | 201010178977.4 | 申請日: | 2010-05-21 |
| 公開(公告)號: | CN101825514A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發明(設計)人: | 范偉;紀春華;王濤;賈元妹 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G01M3/26 | 分類號: | G01M3/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 流量 泄漏 檢測 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種流量式泄漏檢測方法及裝置,屬于氣密性檢測領域。
背景技術
流量式泄漏檢測方法主要通過檢測層流毛細管兩端的壓差,然后計算得到流過層流毛細管的流量,從而推導出被測容器的泄漏量。其測量原理如圖1所示,其測量操作步驟為:
第1步:打開安裝在進氣管2上的閥門3,氣源1進入進氣管2,經過層流元件5,為被測容器6充入氣體;
第2步:當被測容器6內的氣體壓力達到預先設定壓力值以后,等待整個檢測回路(包括進氣管2、層流元件5、被測容器6)內的氣體狀態(包括溫度、壓力)達到穩定;
第3步:讀取差壓傳感器4的輸出值DP,根據公式1計算泄漏量Q。
Q=K×DP??????????????????????????????(1)
其中,K為層流元件的阻尼系數。
第4步:關閉閥門,將被測容器6內的剩余氣體排出,結束檢測。
通過以上步驟即可得到被測容器的泄漏量。
該測量方法的缺點是:①差壓傳感器4的高壓端直接與氣源1連接,氣源壓力的波動會直接影響差壓信號的穩定性,造成檢測誤差;②由于在充氣過程中,被測容器6內溫度變化較大,檢測時間受檢測效率的影響較短,因此溫度的變化也會給檢測帶來誤差。
發明內容
本發明的目的是為了克服已有技術存在的不足,提出一種流量式泄漏檢測方法及裝置。本發明的方法是首先為基準容器和被測容器充氣,待壓力平衡后,通過檢測基準容器與被測容器間層流元件的差壓來計算泄漏量,從而提高了檢測的精度和穩定性。
本發明的目的是通過下述技術方案實現的。
一種流量式泄漏檢測裝置,包括:氣源、進氣管、進氣支路A,進氣支路B、層流元件、被測容器、基準容器、差壓傳感器、閥門A、閥門B。
其連接關系為:進氣管的一端與氣源連接,另一端與進氣支路A和進氣支路B的進氣端連接;進氣支路A的出氣端與閥門A的進氣端連接,閥門A的出氣端分別于被測容器和層流元件的一端連接;進氣支路B的出氣端與閥門B的進氣端連接,閥門B的出氣端分別于基準容器和層流元件的另一端連接;差壓傳感器跨接在層流元件的兩端。
所述層流元件包括但不限于層流毛細管。
一種流量式泄漏檢測方法,其具體步驟為:
步驟一、給被測容器和基準容器充氣。
打開閥門A和閥門B,氣源分別經過進氣支路A和進氣支路B為被測容器、基準容器充氣。
步驟二、當被測容器和基準容器內的氣體壓力達到預先設定壓力值以后,關閉閥門A和閥門B。
步驟三、等待整個檢測回路內的氣體狀態達到穩定。
所述檢測回路包括進氣管、進氣支路A,進氣支路B、層流元件、被測容器、基準容器;
所述氣體狀態包括溫度、壓力。
步驟四、讀取差壓傳感器的輸出值DP,獲得泄漏量Q。
第1步:獲取被測容器和基準容器的容積V1、V2,差壓傳感器的輸出值DP;
第2步:通過公式2獲取容積補償系數ε;
ε=1+V1/V2????????????????????????????(2)
第3步:通過公式3獲取被測容器的泄漏量Q;
Q=K×ε×DP???????????????????????????(3)
其中,K為層流元件的阻尼系數。
第4步:關閉閥門A和閥門B,將被測容器和基準容器內剩余的氣體排出,結束檢測。
通過以上步驟的操作,即可得到被測容器的泄漏量Q。
有益效果
本發明與已有流量式泄漏檢測方法相比較,有如下優點:
①以基準容器代替了原檢測回路中的氣源,從而消除了氣源壓力的波動對檢測結果的影響,提高了檢測精度和穩定性;
②檢測過程中,被測容器與基準容器始終相通,在一定程度上消除了溫度變化對檢測結果的影響,提高了檢測精度。
附圖說明
圖1為已有技術的流量式泄漏檢測方法原理圖;
其中:1-氣源;2-進氣管;3-閥門;4-差壓傳感器;5-層流元件;6-被測容器;
圖2為本發明流量式泄漏檢測方法的一種具體實施方式的原理圖。
其中:1-氣源;2-進氣管;3-進氣支路A;4-進氣支路B;5-閥門A;6-閥門B;7-差壓傳感器;8-層流元件;9-被測容器;10-基準容器。
具體實施方式
根據上述技術方案,下面結合附圖對本發明進行詳細說明。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京理工大學,未經北京理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010178977.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





