[發明專利]焦點檢測裝置、攝像器件和電子照相機

無效

• 申請號: 201010178021.4
• 申請日: 2010-05-18
• 公開（公告）號: CN101900867A
• 公開（公告）日: 2010-12-01
• 發明（設計）人: 小室善昭
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G02B7/28
• 分類號: G02B7/28;G03B13/36
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 陳桂香;武玉琴

1.一種焦點檢測裝置，其包括：

多個第一類型像素，各個所述第一類型像素包括光電轉換器、第一光學元件和第二光學元件，所述光電轉換器用于接收來自攝像光學系統的光并進行光電轉換，所述第一光學元件和所述第二光學元件布置在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上且折射率不同，各個所述第一類型像素輸出與所述光電轉換器所接收到的光量對應的第一電荷信號；

多個第二類型像素，各個所述第二類型像素包括所述光電轉換器、所述第一光學元件和所述第二光學元件，所述第一光學元件和所述第二光學元件布置在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上而所述第一光學元件和所述第二光學元件與所述光電轉換器之間的位置關系不同于各個所述第一類型像素中的位置關系，各個所述第二類型像素輸出與所述光電轉換器所接收到的光量對應的第二電荷信號；以及

成像狀態檢測器，它用于根據所述第一電荷信號和所述第二電荷信號來檢測所述攝像光學系統的成像狀態。

2.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，

各個所述第一類型像素和各個所述第二類型像素還包括設在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上的集光單元，所述集光單元把來自所述攝像光學系統的入射光聚集到所述光電轉換器，并且

所述第一光學元件和所述第二光學元件設置在所述集光單元與所述光電轉換器之間。

3.如權利要求2所述的焦點檢測裝置，其中，

所述第一光學元件和所述第二光學元件被配置為：由所述第一光學元件和所述第二光學元件構成的單元與所述光電轉換器的整體相對，所述第一光學元件與所述光電轉換器相對的面積和所述第二光學元件與所述光電轉換器相對的面積彼此不同，所述第一光學元件和所述第二光學元件在所述攝像光學系統的光軸方向上彼此不重疊，并且

所述第一光學元件和所述第二光學元件被配置為：各個所述第一類型像素中所述第一光學元件與所述第二光學元件之間分界面的位置和各個所述第二類型像素中所述第一光學元件與所述第二光學元件之間分界面的位置分別在沿著所述光軸方向穿過所述光電轉換器的中心的軸線的兩側。

4.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，

各個所述第一類型像素和各個所述第二類型像素還包括設在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上的集光單元，所述集光單元把來自所述攝像光學系統的入射光聚集到所述光電轉換器，并且

所述第一光學元件和所述第二光學元件設置在所述攝像光學系統與所述集光單元之間。

5.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，各個所述第一類型像素和各個所述第二類型像素還包括設在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上的光學濾光器，所述光學濾光器選擇性地透射預定波長范圍內的光。

6.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，

各個所述第一類型像素還包括設在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上的第一光學濾光器或第二光學濾光器，所述第一光學濾光器選擇性地透射預定波長范圍內的光，所述第二光學濾光器選擇性地透射另一預定波長范圍內的光，并且

各個所述第二類型像素還包括設在從所述攝像光學系統到所述光電轉換器的光路上的所述第一光學濾光器或所述第二光學濾光器。

7.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，各個所述第一類型像素和各個所述第二類型像素還包括波導元件，所述波導元件設在由所述第一光學元件和所述第二光學元件構成的單元與所述光電轉換器之間的位置處，所述波導元件通過反射把來自所述攝像光學系統的入射光導向所述光電轉換器。

8.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，所述第一光學元件和所述第二光學元件中的至少一者由單晶硅、非晶硅、多晶硅、鍺、二氧化硅、氮化硅、硅氧烷、鎢、鋁或銅制成。

9.如權利要求1所述的焦點檢測裝置，其中，所述第一光學元件和所述第二光學元件中的至少一者在面對所述攝像光學系統的表面上設有由光學材料制成的膜，所述光學材料的反射率低于該所述第一光學元件和所述第二光學元件中的至少一者的內部的反射率。