[發明專利]物質光學特性的檢測系統無效
| 申請號: | 201010177602.6 | 申請日: | 2010-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN101825493A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發明(設計)人: | 徐林;徐劍秋;張帥一;徐茸茸 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G01M11/02;G01N1/28 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 物質 光學 特性 檢測 系統 | ||
1.一種物質光學特性的檢測系統,特征在于:其構成包括半導體泵浦源(101),沿該半導體泵浦源(101)的激光輸出方向依次是整形及耦合裝置(102)、二向色鏡(103)和光纖(104),所述的二向色鏡(103)與光路呈45°放置,所述的光纖(104)靠近所述的二向色鏡(103)一端為平面稱為近端平面,另一端為斜面稱為遠端斜面,待測物質液體小球(107)置于所述的光纖(104)的遠端斜面上,在所述二向色鏡(103)的反射方向依次是準直透鏡(105)和光譜分析儀(106);所述的半導體泵浦源(101)發射的泵浦光的中心波長與待測物質(203)吸收波長重疊;所述的半導體泵浦源(101)發射的泵浦光通過整形及耦合裝置(102)后聚焦到所述的光纖(104)的近端平面,所述的待測物質液體小球(107)在所述的半導體泵浦源(101)發射的泵浦光的激發下產生熒光并放大,該熒光由所述的光纖(104)的遠端斜面輸入、光纖(104)近端平面輸出,經所述的二向色鏡(103)反射經準直透鏡(105)準直輸入所述的光譜分析儀(106)。
2.根據權利要求1所述的物質光學特性的檢測系統,其特征在于:所述的待測物質的液體小球(107)制備方法如下:將待測物質(203)表面清洗干凈,滴少量折射率n>1.5有機溶劑液滴(204)在待測物質(203)的表面,超短脈沖激光器(201)輸出的脈寬為皮秒量級的超短脈沖激光經聚焦系統(202)聚焦在待測物質(203)的表面,將待測物質打成少量納米顆粒并分散在有機溶劑里形成待測物質液體小球(107)。
3.根據權利要求1所述的物質光學特性的檢測系統,其特征在于:所述的二向色鏡(103)是具有對半導體泵浦源(101)輸出的泵浦光有極高透過率,而對從光纖端面輸出的熒光具有極高反射率的鏡片。
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