[發明專利]一種自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備

無效

• 申請號: 201010176170.7
• 申請日: 2010-05-17
• 公開（公告）號: CN101819247A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 曹旭陽
• 申請（專利權）人: 曹旭陽
• 主分類號: G01R31/18
• 分類號: G01R31/18
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 禹小明;王楚鴻

1.一種自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征在于：由滑道、氣缸、喂料機構、收料機構、耐高壓測試治具、電氣功能測試治具組成；

所述設備可一次裝入多管料，可自動一個一個測試放料，并可以區分良品與不良品，并分別裝管；

所述設備可通過觸摸屏來進行控制。

2.根據權利要求1所述的設備，其特征是：滑道安裝在測試平面上，整個測試平面與水平面呈一定傾斜角度，被測物品利用自身重力作用在滑道中滑行，到達測試位置時由氣缸裝置擋住被測物品阻止其繼續下滑；測試完成后，氣缸裝置縮回，被測物品繼續利用重力作用下滑；所述的滑道是由多段拼接組成；滑道上安裝有多對傳感器。

3.根據權利要求1所述的自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征是：將耐高壓治具所需的金屬片與高壓測試滑道段結合成一體，以實現在滑道中進行耐高壓測試。

4.根據權利要求1所述的自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征是：將電氣測試座與電氣測試滑道段結合成一個模組，以實現滑道中進行電氣功能測試以及模組化更換測試治具。

5.根據權利要求1-4任一權利要求所述一種自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征在于：于工作臺面板上傾斜地由高位端向低位端依次設有以滑道相通連接的：喂料機構、高壓測試部分、電氣測試部分及不良品自動分選部，于工作臺內部設有高壓測試儀接口、電氣測試儀器接口，及連接控制上述各部分的中央控制系統；

——所述喂料機構是一進料管(43)；

——所述高壓測試部分包括：不導電材料的高壓測試滑道，于高壓測試滑道中設置高壓測試座，高壓測試座是固定在高壓測試滑道中的兩片金屬塊(51)，金屬塊分別對應被測試電子組件耐壓測試部位，金屬塊(51)與耐高壓測試儀相連結；對應高壓測試座還設有可阻止被測試電子組件下滑并定位該被測試電子組件于高壓測試座上的高壓測試阻料氣缸(21)；

——所述電氣測試部分包括：不導電材料的電氣測試滑道(12)，于電氣測試滑道中設有由電氣測試座推移氣缸(23)控制的電氣測試座(52)，測試座上有探針或彈片，探針或彈片的數量與被測產品上的管腳數相同，再將測試座(52)與電氣測試儀器連結，對應電氣測試座還設有可阻止被測試電子組件下滑并定位該被測試電子組件于電氣測試座上的電氣測試阻料氣缸(22)；

——所述不良品自動分選部包括：連接電氣測試滑道(12)出口設有高壓不良品滑道(13)，于高壓不良品滑道(13)下游設有阻止被測試電子組件下滑的高壓不良品阻料氣缸(24)，連接高壓不良品滑道(13)控制其橫移的高壓不良推移氣缸(25)；對應高壓不良品滑道(13)在橫移后的位置對應設置可承接高壓不良品滑道(13)出口的高壓不良回收滑道(17)；

連接高壓不良回收滑道(17)出口設有電氣不良品滑道(14)，于電氣不良品滑道(14)下游設有阻止被測試電子組件下滑的電氣不良品阻料氣缸(26)，連接電氣不良品滑道(14)控制其橫移的電氣不良推移氣缸(27)；對應電氣不良品滑道(14)在橫移后的位置對應設置可承接電氣不良品滑道(14)出口的電氣不良回收滑道(16)；

連接電氣不良品滑道(14)初始狀態時出口設有良品回收滑道(15)；

于良品回收滑道(15)、電氣不良回收滑道(16)、高壓不良回收滑道(17)的上游分別設有在對應滑道堆高被測試電子組件至預定位置時能阻止后來被測試電子組件下滑的滿溢控制阻料氣缸(28)。

6.根據權利要求5所述的一種自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征在于：所述中央控制系統包括設于工作臺內部的微機控制系統、安設于工作臺面板上的輸入指令和顯示數據用的觸摸屏(32)及警示燈(31)。

7.根據權利要求5所述的一種自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征在于：所述喂料機構是將進料管(43)插入彈匣(42)中再將彈匣裝入彈匣底座中(41)。

8.根據權利要求5所述的一種自動檢測電子組件產品耐高壓及電氣功能的設備，其特征在于：于高壓測試滑道(11)上設有吹氣管29，可向滑道吹氣以排除滑道內被測試電子組件卡料的問題。