[發明專利]通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的裝置和方法

無效

• 申請號: 201010176102.0
• 申請日: 2010-05-18
• 公開（公告）號: CN101852718A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 張永康;王飛;姚紅兵;孟春梅;程麗娟;魯金忠;張朝陽
• 申請（專利權）人: 江蘇大學
• 主分類號: G01N21/00
• 分類號: G01N21/00
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 汪旭東

1.通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的裝置，其特征是，包括激光器(10)、五軸工作臺(11)、約束層(12)、吸收層(13)、工件(14)、示波器(20)、分光鏡(21)、光電二極管A(22)、光電二極管B(23)和探測激光器(24)；在激光器(10)輸出光路上放置所述分光鏡(21)，所述分光鏡(21)于激光器(10)輸出光路的夾角為(45)度；在所述分光鏡(21)反射的觸發光路上放置光電二極管(22)，所述光電二極管(22)和分光鏡(21)的連線與激光器(10)輸出光路垂直，所述分光鏡(21)和工件(14)的距離與所述分光鏡(21)和光電二極管A(22)的距離相等，所述光電二極管(22)通過信號線連接到示波器(20)；在激光器(10)輸出光路的一側放置探測激光器(24)，所述探測激光器(24)輸出的探測激光束和激光器(10)輸出光路在同一平面內且相互垂直；在所述探測激光器(24)相對激光器(10)輸出光路對稱的位置上放置光電二極管B(23)，所述探測激光器(24)和激光器(10)輸出光路的距離與所述光電二極管B(23)和激光器(10)輸出光路的距離相等，所述光電二極管B(23)通過信號線連接到示波器(20)。

2.根據權利要求1所述的通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的裝置，其特征是，所述探測激光器(24)輸出的探測激光束距離工件(14)的距離為1cm-5cm。

3.根據權利要求1所述的通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的裝置，其特征是，所述分光鏡(21)透射94％-98％的激光能量，反射2％-6％的激光能量。

4.根據權利要求1、2或3所述的通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的裝置，其特征是，所述工件(14)裝夾于五軸工作臺(11)，工件(14)上覆蓋有吸收層(13)，吸收層(13)上覆蓋有約束層(12)。

5.實施權利要求1所述的通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的裝置的方法，其特征是，具體步驟如下：

1)裝夾工件(14)、吸收層(13)和約束層(12)，開啟探測激光器(24)和示波器(20)，從激光器()10發射激光束對工件(14)沖擊強化；

2)在激光沖擊強化后，工作人員從示波器(20)上讀出這次沖擊的時間差，將其和標準時間差進行比較，反應出等離子體沖擊波的強度，判定沖擊強化的效果。

6.根據權利要求5所述的通過光偏轉對激光沖擊強化進行質量評估的方法，其特征是，所述標準時間差是在正常工作條件下示波器采集到的時間差。