[發明專利]同時測量激光器調Q能量和放大自發輻射的方法

有效

• 申請號: 201010176085.0
• 申請日: 2010-05-18
• 公開（公告）號: CN101825491A
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發明（設計）人: 葉云霞;管海兵;張永康;張朝陽;姚紅兵;錢曉明;吳忠
• 申請（專利權）人: 江蘇大學
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 汪旭東

1.同時測量激光器調Q能量和放大自發輻射的方法，其特征是，具體步驟如下：

A)調Q激光器輸出一束激光，通過反射率為99.8％的45度全反射鏡(1)，其中0.2％的激光能量透過反射鏡，透射的激光束通過光能量衰減器(2)，使得激光能量衰減到光電探測器破壞閾值以下，然后進入光電探測器(3)，光電探測器(3)將光信號轉為電信號進入信號處理和控制系統(6)；

B)被45度反射鏡(1)反射的激光能量繼續通過另一塊45度全反鏡反射(4)，被反射的能量進入能量探測器(5)，能量探測器(5)將光信號轉化為電信號進入信號處理和控制系統(6)；

C)光電探測器(3)將光信號轉為的電信號進入信號處理和控制系統(6)中顯示為激光脈沖波形信號，由于放大自發輻射和調Q波形的脈寬不同，信號處理和控制系統(6)通過脈沖波形脈寬信號來區分放大自發輻射和調Q波形，同時計算出ASE波形所占面積與調Q波形所占面積的比值，信號處理與控制系統(6)利用該比值和能量探測器(5)探測到的能量，計算出ASE能量與調Q能量；

D)信號處理和控制系統(6)為這兩種能量信號分別設置了不同的傳輸通道(7)，(8)，進入能量顯示器(9)中分別顯示出來。

2.根據權利要求1所述的同時測量激光器調Q能量和放大自發輻射的方法，其特征是，所述第C步計算出ASE波形所占面積與調Q波形所占面積的比值的方法為，利用放大自發輻射波形和調Q波形的橫坐標和縱坐標值對兩種波形進行積分，相應得到兩種波形所對應的面積，并用放大自發輻射波形的面積除以調Q波形的面積。

3.根據權利要求1所述的同時測量激光器調Q能量和放大自發輻射的方法，其特征是，所述第C步計算ASE能量與調Q能量的方法為，能量探測器探測到的能量由放大自發輻射和調Q能量組成，放大自發輻射和調Q能量的比值與放大自發輻射和調Q波形面積的比值是等價的，因此信號處理與控制系統利用該比值和激光總能量，計算出ASE能量與調Q能量。