[發(fā)明專利]球磨機(jī)主軸瓦的刮研方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010176031.4 | 申請日: | 2010-05-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102248224A | 公開(公告)日: | 2011-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳喜華;施興洲 | 申請(專利權(quán))人: | 南京梅山冶金發(fā)展有限公司 |
| 主分類號(hào): | B23D79/02 | 分類號(hào): | B23D79/02 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責(zé)任公司 32218 | 代理人: | 徐冬濤 |
| 地址: | 210039 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 球磨機(jī) 主軸 刮研 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于機(jī)械修理檢驗(yàn)機(jī)具類,具體涉及一種球磨機(jī)主軸瓦發(fā)生故障后的球磨機(jī)主軸瓦的刮研方法。
背景技術(shù)
球磨機(jī)是廣泛應(yīng)用于冶金、礦山、電力等相關(guān)行業(yè)各類物料碎磨處理的重要設(shè)備,在選礦廠的生產(chǎn)實(shí)踐中,球磨機(jī)是整個(gè)選礦工藝的咽喉設(shè)備。在以往的生產(chǎn)中,其主要事故為主軸瓦燒壞,極易造成長時(shí)間的停產(chǎn)檢修達(dá)。由于檢修工作量較大,技術(shù)要求較高,且一次維修的成功率低,造成人力、物力以及生產(chǎn)上很大的損失。
球磨機(jī)經(jīng)過一定的工作時(shí)間后,因多方面的原因會(huì)導(dǎo)致主軸瓦溫度過高、甚至燒瓦而停車,主要體現(xiàn)在夏季環(huán)境溫度過高、電氣保護(hù)系統(tǒng)失靈、潤滑油冷卻系統(tǒng)不起作用,潤滑油突然中斷等因素。將直接或間接導(dǎo)致球磨機(jī)主軸瓦與中空軸之間的油膜破壞,兩者之間摩擦加劇而導(dǎo)致主軸瓦溫度升高,在實(shí)際生產(chǎn)過程中是無法避免的。在實(shí)際檢修中,職工憑感覺、憑想象進(jìn)行處理,導(dǎo)致檢修效率低下,檢修時(shí)間長,成功率低,浪費(fèi)大量人力物力達(dá)不到檢修效果。本發(fā)明是結(jié)合專業(yè)知識(shí),通過對檢修現(xiàn)場的實(shí)踐,總結(jié)、提煉,而得出的一套針對球磨機(jī)主軸瓦故障處理的刮研方法,方法簡單易學(xué),按照本方法處理球磨機(jī)主軸瓦故障時(shí),大幅度縮短了檢修時(shí)間,并能保證一次修刮成功,大幅度提高檢修效率,降低職工檢修強(qiáng)度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是根據(jù)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,提供一種球磨機(jī)主軸瓦的刮研方法,該方法精確界定主軸瓦刮研的參數(shù)和步驟,既大幅縮短檢修時(shí)間,又提高檢修效率。
本發(fā)明目的實(shí)現(xiàn)由以下技術(shù)方案完成:
一種球磨機(jī)主軸瓦的刮研方法,涉及一種用于選礦的球磨機(jī),所述球磨機(jī)包括有依次貼合設(shè)置的中空軸、主軸瓦及球面瓦座,其特征在于該方法包括如下步驟:
1、在所述主軸瓦上以中空軸與主軸瓦的接觸角為依托,界定出所述接觸角兩側(cè)邊緣的邊界線,所述接觸角為76°-84°;
2、將所述主軸瓦從所述邊界線外側(cè)至中分面的部分修刮為楔形間隙,且中分面外最大尺寸為所述中空軸頸直徑的5‰-7‰,將所述主軸瓦的兩端面瓦口部分刮成半徑位于8-10mm之間的圓柱形,之后將所述主軸瓦修刮及與所述中空軸對研以使二者的接觸面積不小于85%;
3、修刮所述主軸瓦以使其與中空軸的接觸點(diǎn)的分布情況滿足:接觸點(diǎn)不超過3mm×3mm、每平方厘米內(nèi)具有1-2個(gè)接觸點(diǎn);
4、打磨所述球面瓦座的上下接觸面,以使其與主軸瓦接觸面積不少于75%,且接觸面上每平方英寸內(nèi)至少有一個(gè)接觸點(diǎn),球面瓦座與主軸瓦的兩球面圓周具有楔形間隙,高度為20-50mm,邊緣最大間隙達(dá)0.8-1.6mm;
5、將主軸瓦著色并安裝于球面瓦座上,啟動(dòng)球磨機(jī),之后取出并檢查所述主軸瓦以下狀態(tài)參數(shù):
主軸瓦光滑無裂紋;
中空軸與主軸瓦的接觸角在76-84。之間;
主軸瓦與中空軸頸接觸均勻,且接觸面積大于85%;
主軸瓦與中空軸接觸點(diǎn)為1-2點(diǎn)/cm2,接觸點(diǎn)大小在4mm×4mm-6mm×6m之間;
主軸瓦口間隙在5‰-‰之間。
若上述狀態(tài)參數(shù)不滿足要求,則根據(jù)不合格項(xiàng)目選擇用刮刀將接觸點(diǎn)分為若干點(diǎn),或重復(fù)步驟1、2、3和/或4。
所述步驟2)中所述主軸瓦修刮及與所述中空軸對研的具體步驟是:將所述主軸瓦著色后反扣在中空軸上,對研后檢查中空軸與主軸瓦的接觸情況:若接觸面積小于85%以上,則沿軸瓦軸線成45°交叉修刮部分接觸點(diǎn)的區(qū)域,之后對研直至接觸面積不小于85%。
所述步驟3)中所述修刮的具體步驟是:將所述主軸瓦著色后反扣在中空軸上對研后檢查中空軸與主軸瓦的接觸點(diǎn)的分布情況,若不符合步驟3)中標(biāo)準(zhǔn)則用刀把接觸點(diǎn)沿軸瓦軸線成45°交叉修刮,后對研直至符合上述標(biāo)準(zhǔn)。
所述方法還包括選用120-200目砂紙打磨中空軸至光潔度達(dá)之步驟,該步驟于步驟2)中主軸瓦與所述中空軸對研前完成。
所述打磨中空軸中,光潔度的測定規(guī)則為:手摸時(shí)觸覺與觸摸鏡面相似;目測時(shí)軸面上可反光照影出人像。
所述步驟5)中啟動(dòng)球磨機(jī)的具體方式是:啟動(dòng)球磨機(jī)正轉(zhuǎn)2-3轉(zhuǎn),后使球磨機(jī)反轉(zhuǎn)2-3轉(zhuǎn)。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是:
(1)確保一次性能研刮成功,防止重復(fù)性檢修。
(2)每次可大幅減少檢修時(shí)間。
(3)降低職工勞動(dòng)強(qiáng)度。
附圖說明
附圖1為主軸瓦邊界線確定示意圖Ⅰ;
附圖2為主軸瓦邊界線確定示意圖Ⅱ。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南京梅山冶金發(fā)展有限公司,未經(jīng)南京梅山冶金發(fā)展有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010176031.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種組合式智能印刷機(jī)
- 下一篇:自供氣式粉煤灰浮選工藝
- 同類專利
- 專利分類
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測試終端的測試方法
- 一種服裝用人體測量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





