[發明專利]繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法

有效

• 申請號: 201010175344.8
• 申請日: 2010-05-14
• 公開（公告）號: CN102243607A
• 公開（公告）日: 2011-11-16
• 發明（設計）人: 黃順治;張志隆
• 申請（專利權）人: 技嘉科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/267
• 分類號: G06F11/267
• 代理公司: 北京挺立專利事務所 11265
• 代理人: 葉樹明

技術領域

本發明是關于一種繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，尤其是與一種利用升壓手段對繪圖處理器的超頻工作性能進行檢測與分級的方法有關。

背景技術

由于繪圖處理器(Graphic?Processing?Unit；GPU)的電路構造相當復雜，且在繪圖處理器的制造過程常會因為許多不可控制的因素，如溫度、灰塵以及壓力，而導致制造商無法確定繪圖處理器的最終工作頻率，僅能提供繪圖處理器所對應的一超頻檢測頻段，因此，制造商必須另外依據繪圖處理器的性能進行分類。

習知技術中，對于繪圖處理器的超頻工作性能的分類，是藉由數小時長時間對繪圖處理器進行超頻測試，即是，提供工作電壓至繪圖處理器，并依序對繪圖處理器所具備的超頻檢測頻段進行測試。而超頻檢測頻段更具有多數個超頻檢測頻率，因此必須一一于每一超頻檢測頻率花費數小時進行檢測。由此可見，當繪圖處理器所具備的超頻檢測頻段越大，其進行檢測所花費的時間越多，進而增加制造商生產成本。

另外，有些繪圖處理器在數小時檢測的過程中，可能正常，但是若再進一步進行數十小時的檢測，可能會發生異常。由此可見，習知技術中，利用長時間的檢測方式并無法提供一穩定且客觀的檢測結果，進而影響商譽。

在此前提下，本案發明人深感實有必要開發出一種繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法藉以同時改善上述種種問題。

發明內容

本發明所欲解決的技術問題與目的：

有鑒于習知技術中，必須花費許多時間對繪圖處理器進行檢測，而增加生產成本，另外，即便進行完檢測后，仍無法提供一穩定且客觀的檢測結果，而使得無法提供高質量的繪圖處理器，而影響商譽。

因此，本發明的主要目的在于利用一高于工作電壓的升壓電壓，使繪圖處理器在更為嚴苛的工作條件下超頻運作，藉以激發繪圖處理器快速產生功率耗用值的異常變化，進而縮短對繪圖處理器進行檢測的時間。

本發明的另一目的在于利用一高于工作電壓的升壓電壓，使繪圖處理器在更為嚴苛的工作條件下超頻運作，并藉由繪圖處理器的功率耗用值的異常變化程度，對繪圖處理器的超頻工作性能提供更為穩定而客觀的檢測與分級結果，藉此，可有效解決上述的種種問題。

本發明解決問題的技術手段：

本發明為解決習知技術的問題，所采用的技術手段是提供一種繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法，是用以檢測一繪圖處理器的超頻工作性能，并加以分級，所述繪圖處理器是具有一超頻檢測頻段，所述超頻檢測頻段是包含多數個超頻檢測頻率。

首先，將一工作電壓輸入至所述繪圖處理器，使所述繪圖處理器以多個超頻檢測頻率運作，藉以對應地量測出多數個標準功率耗用值。再將多個標準功率耗用值儲存為一頻率-功率耗用值信息。

接著，將所述工作電壓提升至一升壓電壓，使所述繪圖處理器以多個超頻檢測頻率運作，藉以對應地量測出多數個升壓功率耗用值，再將多個升壓功率耗用值儲存為一頻率-升壓功率耗用值信息。

接著，在多個超頻檢測頻率中選定任二相鄰的超頻檢測頻率，藉由所述頻率-功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對應的標準功率耗用值的差值間的比值，并藉由所述頻率-升壓功率耗用值信息求得所選定的超頻檢測頻率的差值與所對應的升壓功率耗用值的差值間的比值

最后，比對上述所求得的二個比值，據以對所述繪圖處理器加以分級。

本發明對照先前技術的功效：

由于在本發明所揭露的繪圖處理器超頻工作性能的檢分方法中，是將一高于工作電壓的升壓電壓輸入至繪圖處理器；因此，可使繪圖處理器在更為嚴苛的工作條件下超頻運作，藉以激發繪圖處理器快速產生功率耗用值的異常變化，進而縮短對繪圖處理器進行檢測的時間，并且縮短檢測成本。

此外，由于在本發明中，特別在不同的超頻檢測頻率下，對不同電壓所罩成的功率耗用值變化進行比對，故可依據二者間的比對結果，進一步快速地對待檢測的繪圖處理器進行分級。換言之，本發明更可依據超頻工作性能，快速地對繪圖處理器進行分級，藉以減少對繪圖處理器進行分級所耗費的人力與物力成本，進而達到超乎預期的功效。

附圖說明

圖1是為本發明第一實施例系統方塊圖；

圖2是本發明第一實施例的頻率-功率耗用值坐標圖；

圖3是本發明第二實施例的頻率-功率耗用值坐標圖；

圖4是本發明第一實施例的流程圖；以及

圖5是本發明第二實施例的流程圖。

具體實施方式